г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

142N432 Sick

Артикул
142N432
Дополнительный Артикул
142N432
Бренд
Sick
Описание
Разъем PROXIMITY PHOTELECTRICNPNREDBGS4-PIN M12 CONNECTOR
Вес
1,36 кг

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: WL4SL-3P2232
Бренд: Sick
Описание: Разъем (1061561)WL4SL-3P2232PROXIMITY PEPNPL/D SWITCHINGLASER CLASS 112M SENSING RANGETEACH4-PIN M8 CONNECTOR
Подробнее
Артикул: KD4-SIM121SM12-T18
Бренд: Sick
Описание: Раъемы (4073840)KD4-SIM121SM12-T18EXTENSIONM12FEMALE4-PINSTRAIGHT-TO-M12MALE4-PINSTRAIGHTPVCUBLACK1M18 AWG
Подробнее
Артикул: KT10WP2115
Бренд: Sick
Описание: Разъем CONTRAST SENSORPNP OUTPUT12.5 MM FOCUS20 MS OFF-DELAY5-PIN M12 CONNECTORPERPNDICULAR LIGHT SPOT PHASEOUT DURING 2007REPLACEMENT IS 1028232
Подробнее
Артикул: 1015729
Бренд: Sick
Описание: Разъем 24 VDCPLUG CONNECTOR WITH 1NO / 1NC RELAY OUTPUTSEUROPEANKEYED E/4
Подробнее
Артикул: ELG3-0930P511
Бренд: Sick
Описание: Разъем Features_x000D_ Sick;Technology: Sender/receiver. Minimum detectable object (MDO): Parallel beam: ? 35 mm ... 65 mm. Beam separation: 30 mm. Number of beams: ? 32. Detection height: 930 mm. Evaluation beams: Parallel beam_x000D_ Sick;Performance_x000D_ Sick;Maximum range: 3 m. Minimum range: ? 0 mm. Working range: 2 m. Response time: Parallel beam ? 100 ms 1)_x000D_ Sick;1) With resistive load._x000D_ Sick;Interfaces_x000D_ Sick;Switching output: 2 x PNP (Q and /Q). Connection type: M12, 4-pin male connector_x000D_ Sick;Mechanics/electronics_x000D_ Sick;Wave length: 880 nm. Supply voltage
Подробнее
Артикул: PS511000DNET
Бренд: Sick
Описание: Разъем 115 230 VAC DEVICENET UNIT WITH MICRO CONNECTOR
Подробнее