г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

ZL3-P1400S08 Sick

Артикул
ZL3-P1400S08
Дополнительный Артикул
ZL3P1400S08
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик PHOTOELECTRIC 10-30VDC 4PIN MALE
Вес
0,04 кг
Теги
Фотоэлектрика

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 6033005
Бренд: Sick
Описание: Лазерный датчик PH-LASERDIODE SNF-501L-
Подробнее
Артикул: MLG2-0880I812
Бренд: Sick
Описание: Датчик (1023590)MLG 2-0880I812 LIGHTGRIDHEIGHT 880MM/BEAM SPACING 20MM, 1XPNP, RS485, 1X INPUT, RANGE 5 PROGRAMMABLE
Подробнее
Артикул: 6048411
Бренд: Sick
Описание: Датчик UM18-217165102 COREULTRASONIC SENSOR UM18-217165102 UM18-2 CORE 20.150 MM (250 MM) PLASTIC HOUSING (PBT)1X SWITCHING OUTPUT NPN ANGLED
Подробнее
Артикул: UE43-2MF2D2
Бренд: Sick
Описание:

Ультразвуковые Датчик Safety-related parameters_x000D_ Sick;Safety integrity level: SIL3 (IEC 61508)_x000D_ Sick;SILCL3 (EN 62061)_x000D_ Sick;. Category: Category 4 (EN ISO 13849). Performance level: PL e (EN ISO 13849). B10d parameter: 1.26 x 106 switching cycles (AC-15, 230 V, I = 1.5 A)_x000D_ Sick;5.9 x 106 switching cycles (AC-15, 230 V, I = 0.75 A)_x000D_ Sick;4.35 x 105 switching cycles (DC-13, 24 V, I = 2.5 A)_x000D_ Sick;1 x 107 switching cycles (DC-13, 24 V, I = 0.63 A)_x000D_ Sick;. PFHD (mean probability of a dangerous failure per hour): 3.0 x 10-8 (EN ISO 13849). TM (mission time): 20

Подробнее
Артикул: 6048384
Бренд: Sick
Описание: Датчик UM18-21712A211 / ULTRASONIC SENSOR UM18-2 HI20.150MM (250 MM)METAL HOUSING (NICKEL-PLATED BRASS)1X PUSH-PULL (PNP/NPN) INCL. IO-LINKSTRAIGHT
Подробнее
Артикул: WT2SF111
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик
Подробнее