г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

WTB27-3P3711 Sick

Артикул
WTB27-3P3711
Дополнительный Артикул
WTB273P3711
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик (1027758)WTB27-3P3711PROXIMITY PEBGSPNPIR7-PIN SQUARE PIGTAIL150MMPOT
Вес
0,13 кг
Теги
фотоэлектрический

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: DOL-1204-W05MN
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик (6028131)DOL-1204-W05MN CABLECORDSET, M12, FEMALE, 4-PIN, RIGHT-ANGLE, PVC, ORANGE, 5M, IP69K
Подробнее
Артикул: 1057088
Бренд: Sick
Описание: Датчик LFP1700-A4NMB / TDR LEVEL SENSOR LFPPROBE 1700 MMG 3/4 PROCESS CONNECTION2X PNP/NPN0.10V OR 0.20MAM125-PIN
Подробнее
Артикул: WT24-2X200
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (1041910)WT24-2X200PROXIMITY PEBGSNAMURTERMINAL CHAMBER
Подробнее
Артикул: M40E-052200RR0
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Features_x000D_ Sick;Scanning range: 0.5 m ... 70 m, configurable. Low scanning range: 0.5 m ... 20 m. Great scanning range: 9 m ... 70 m. Number of beams: 5. Beam separation: 220 mm. Response time: 10 ms. Synchronization: Optical synchronisation_x000D_ Sick;Safety-related parameters_x000D_ Sick;Type: Type 4 (IEC 61496). Safety integrity level: SIL3 (IEC 61508)_x000D_ Sick;SILCL3 (EN 62061)_x000D_ Sick;. Category: Category 4 (EN ISO 13849). Performance level: PL e (EN ISO 13849). PFHD (mean probability of a dangerous failure per hour): 6.6 x 10-9 (EN ISO
Подробнее
Артикул: WT4-P331
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PROXIMITY PHOTOELECTRICPNPRED20...80 MM ABS
Подробнее
Артикул: 1041786
Бренд: Sick
Описание: Сканер CLV 621-1000 STRAIGHT / LONG RANGE RASTER SCANNERSERIAL COMMUNICATION
Подробнее