г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

WT32R930 Sick

Артикул
WT32R930
Дополнительный Артикул
WT32R930
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик PROXIMITY PHOTOELECTRICUC SPDTIR100...2000 M
Вес
1,36 кг
Теги
фотоэлектрический

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: BEF-ER-SS2000-LFPC
Бренд: Sick
Описание: Датчик (2078194)BEF-ER-SS2000-LFPCSPARE ROPE PROBE FOR LFP CUBICPROBE LENGTH 2000 MMMATERIAL 1.4404/316LDIAMETER 3 MM BEF-ER-SS2000-LFPC
Подробнее
Артикул: WT100-N4419 REF
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик WT100-N4419 REF(6028618)
Подробнее
Артикул: WTR2-P511S07
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик WTR2-P511S07(1022266)
Подробнее
Артикул: GRSE18-N1127
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (1068331)GRSE18-N1127GRSE18-N1127 PHOTOELECTRIC THROUGH-BEAM SENSORLED INFRARED LIGHTSENSING RANGE 10 MNPNCOMPLIMENTARY OUTPUTCABLE 2MM1
Подробнее
Артикул: PHT-RBX60SD30S0AMS0Z
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления Features_x000D_ Sick;Medium: Liquid, gaseous. Pressure type: Gauge pressure. Measuring range: 0 bar ... 0.6 bar. Process temperature: –20 °C ... +150 °C. Output signal: 4 mA ... 20 mA. EHEDG approval: ?_x000D_ Sick;Performance_x000D_ Sick;Non-linearity: ? ± 0.2 %, of span (Best Fit Straight Line, BFSL) according to IEC 61298-2. Accuracy: ? ± 0.5 % of the span optional 0.25 % of span (adjusted in vertical mounting position with lower pressure connection). Non-repeatability: ? ± 0.1 % of the span. Response time (10 % ... 90 %): ? 10
Подробнее
Артикул: 1016680
Бренд: Sick
Описание: Сканер CLV 432-1010 - RASTER SCAN / CLOSE RANGE / SOFTWARE SELECTABLE HOST PORT RS 23/422/485
Подробнее