г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

WT18-3P431S23 Sick

Артикул
WT18-3P431S23
Дополнительный Артикул
WT183P431S23
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик PROXIMITY SWITCH 0.1AMP 10-30VDC
Теги
бесконтактные переключатели

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 1044574
Бренд: Sick
Описание: Сканер CLV631-0121 MID RANGE / LEXAN FRONT WINDOWMID-RANGE LINE SCANNERROTATABLE CONNECTOR FOR ETHERNETPOWERAND I/O CONNECTIONS
Подробнее
Артикул: 6038756
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления PFT-SRB600SG1SSAVMSSZPFT FLEXIBLE PRESSURE TRANSMITTER,GAUGE PRESSURE (RELATIVE), 0…600 BAR,ACCURACY +-0.5% OF SPAN,G1/4A ACC. TO DIN3852-E,STANDARD
Подробнее
Артикул: M40E-66A323RB0
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Features_x000D_ Sick;Resolution: 30 mm. Protective field height: 1,200 mm. Scanning range: 0 m ... 19 m Response timeWith beam coding: ? 21 ms Without beam coding: ? 13 ms . Synchronization: Optical synchronisation_x000D_ Sick;Safety-related parameters_x000D_ Sick;Type: Type 4 (IEC 61496). Safety integrity level: SIL3 (IEC 61508)_x000D_ Sick;SILCL3 (EN 62061)_x000D_ Sick;. Category: Category 4 (EN ISO 13849). Performance level: PL e (EN ISO 13849). PFHD (mean probability of a dangerous failure per hour): 2.8 x 10-8 (EN ISO 13849). TM (mission time): 20 y
Подробнее
Артикул: M40Z-043023TBO
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик (1200131)M40Z-043023TBO4 BEAM300MM BEAM SPACING: ACTIVEFIBER OPTIC DEFLECTIONINTEGRATED LEDADVANCED
Подробнее
Артикул: IM1204BNSZC0
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик 4 MM SHIELDEDNPNNOM
Подробнее
Артикул: WL122N180
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PHOTOELECTRIC
Подробнее