г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: с 9-00 до 21-00
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

WT18-2N112 Sick

Артикул
WT18-2N112
Дополнительный Артикул
WT182N112
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик PROXIMITY PHOTOELECTRICNPNIR50...700 MM ABSCABLE REPLACED BY 1025891
Вес
0,10 кг
Теги
Фотоэлектрика

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: PLG3-210F431
Бренд: Sick
Описание: Датчик Features_x000D_ Sick;Technology: Retro-reflective light grid. Minimum detectable object (MDO): Parallel beam, 35 mm. Beam separation: 30 mm. Number of beams: ? 8. Detection height: 210 mm_x000D_ Sick;Performance_x000D_ Sick;Maximum range (reflective tape REF-PLG): ? 1.5 m. Maximum range (PL150): ? 2 m. Minimum range: ? 100 mm. Working range (reflective tape REF-PLG): 1 m. Working range (PL150): 1.3 m. Response time: Parallel beam > 100 ms 1)_x000D_ Sick;1) With resistive load._x000D_ Sick;Interfaces_x000D_ Sick;Switching output: 1 x PNP (Q). Connection type: Short c
Подробнее
Артикул: LFP0900-G1NMB
Бренд: Sick
Описание: Датчик (1052074)LFP0900-G1NMBTDR LEVEL SENSOR LFP INOXPROBE 900 MMG 3/4 PROCESS CONNECTION2X PNP/NPN0…10V OR 0…20MAM125-PIN
Подробнее
Артикул: 6053088
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления PBS-RP5K0SN1SS0CMA0ZPBS ELECTRONIC PRESSURE SWITCHPRESSURE TRANSMITTER AND DISPLAYGAUGEPSI0 . 5000 PSI (OVER PRESSURE SAFETY: 10000 PSI)AC
Подробнее
Артикул: 1064129
Бренд: Sick
Описание: Датчик MLG1-1040A8221040X10MM, ANALOG, PNP, M12, 8 PIN, 8.5M, BEAM ANGLE +/-3.6 DEGREES, PROGRAMMABLE
Подробнее
Артикул: 6008833
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PROXIMITY PHOTOELECTRIC
Подробнее
Артикул: WL11P130
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик REFLEX PHOTOELECTRICREDPNPCABLE
Подробнее