г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

WT100-P3419 Sick

Артикул
WT100-P3419
Дополнительный Артикул
WT100P3419
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик 6026116 / WT100-P3419 PE PROX
Вес
0,04 кг
Теги
фотоэлектрический

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 6041718
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления PBT-RB1X6SG1SSNA2C0ZPRESSURE TRANSMITTER PBT,RELATIVE PRESSURE, -0…1.6 BAR,NON-LINEARITY +-0.5% OF SPAN (BFSL),G1/4A ACC. TO DIN3852-E,STANDARD,0… +
Подробнее
Артикул: ICR620H-T11503
Бренд: Sick
Описание: Сканер (1055890)ICR620H-T11503ICR620H-T11503 HIGH SPEED
Подробнее
Артикул: LFP1100-B4NMB
Бренд: Sick
Описание: Датчик (1057101)LFP1100-B4NMBTDR LEVEL SENSOR LFP CUBICPROBE 1100 MM3/4"" NPT PROCESS CONNECTION2X PNP/NPN0.10V OR 0.20MAM125-PIN
Подробнее
Артикул: LL3-DK63Z
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик (5313027)LL3-DK63Z FIBER OPTICPLASTIC FIBER-OPTICBIFURCATEDSUPER FLEX2.5X65 END TIPM4 MOUNTSTANDARD
Подробнее
Артикул: MHF15-21NG1PSM
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления Features_x000D_ Sick;Medium: Fluids. Measurement: Switch. Light source: LED. Type of light: Visible red light. Wave length: 650 nm. Process pressure: –0.5 bar ... 16 bar. Process temperature: –25 °C ... +55 °C. GOST approval: ?. UL approval: ?. RoHS certificate: ?_x000D_ Sick;Performance_x000D_ Sick;Response time: 2 ms_x000D_ Sick;Electronics_x000D_ Sick;Supply voltage: 10 V DC ... 30 V DC 1). Residual ripple: ? 5 Vpp 2). Power consumption: ? 30 mA at 24 V DC without output load. Protection class: III. Electrical connection: M12 round connector x 1, 4-pi
Подробнее
Артикул: WL4G2E330
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик
Подробнее