г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

WT100-P1439 Sick

Артикул
WT100-P1439
Дополнительный Артикул
WT100P1439
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик 6026079 / WT100-P1439 PE PROX
Вес
1,36 кг
Теги
Разное(датчики и переключатели)

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 1270A300
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PHOTOELECTRIC
Подробнее
Артикул: MLG5-0250F51L
Бренд: Sick
Описание: Сканер (1023622)MLG 5-0250F51L LIGHTGRIDHEIGHT 0250/BEAM SPACING 50MM, 1XPNP, RANGE 5M, MULTIPLE SCAN
Подробнее
Артикул: VS/VE12-2P430
Бренд: Sick
Описание: Датчик (6026224)VS/VE12-2P430 THRU BEAM4-PIN M12PNP
Подробнее
Артикул: 1000S330
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик REFLEX PHOTOELECTRICPOLARIZED2-WIRE SOLID STATEDARK SWITCINGR ED4.2 M W/(PL 80A)3-PIN MICRO
Подробнее
Артикул: DME5000-127
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Performance_x000D_ Sick;Measuring range: 0.15 m ... 70 m, on reflective tape "Diamond Grade" 1). Resolution: 0.05 mm ... 5 mm. Repeatability: 0.5 mm 1) 2). Accuracy: ± 2 mm. Output time: 2 ms. Light source: Laser, red 3). Laser class: 2 (EN 60825-1 / CDRH). Typ. light spot size (distance): 130 mm (at 70 m)_x000D_ Sick;270 mm (at 150 m)_x000D_ Sick;360 mm (at 220 m)_x000D_ Sick;. Max. movement speed: 10 m/s_x000D_ Sick;1) On reflective tape "Diamond Grade"_x000D_ Sick;2) Statistical error 1 ?, environmental conditions constant, min. warm-up time 10 min._x000D_ Sick;3) Average se
Подробнее
Артикул: LBV311-LXAGGTANX
Бренд: Sick
Описание: Датчик (6048715)LBV311-LXAGGTANXLBV310 VIBRATING LEVEL SWITCH FOR BULK SOLIDSMONO-PROBEATEX II 1/2G2G EEX D IIC T6STANDARD (150C)?NPN/PNPALUM
Подробнее