г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

WS/WE160-F430 Sick

Артикул
WS/WE160-F430
Дополнительный Артикул
WSWE160F430
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик (6022756)WS/WE160-F430 TRHU-BEAMTHROUGH-BEAM PEPNPIROPERATING RANGE 7M4-PIN M8HORIZONTAL HOUSING
Вес
0,08 кг
Теги
Фотоэлектрика

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: WSE280-2N4331
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (6044742)WSE280-2N4331THROUGH-BEAM PENPNREDTERMINAL CHAMBERBRACKET INCLUDED
Подробнее
Артикул: LL3-TR09
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик (5325985)LL3-TR092M FLEXIBLE PMMA FIBER OPTIC CABLE WITH 90 DEGREE DEFLECTION
Подробнее
Артикул: 1023641
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик WT2S-P461 V-TYPE50MM / PROXIMITY PEV-OPTIC50MM RANGEPNPLO200MM M8 4-PIN PIGTAIL
Подробнее
Артикул: H-15021-028
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик SICK OPTIC ELECTRONICLEDEX
Подробнее
Артикул: WE45-R660
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик THROUGH-BEAM PHOTOINDIVIDUAL RECEIVERUC SPDT7-PIN ROUND PUG
Подробнее
Артикул: M20E-081A2A120
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Features_x000D_ Sick;Scanning range: 0 m ... 25 m, configurable. Low scanning range: 0 m ... 6 m. Great scanning range: 2 m ... 25 m. Number of beams: 8. Beam separation or resolution: 116 mm. Response time: 8 ms. Synchronization: Optical synchronisation_x000D_ Sick;Safety-related parameters_x000D_ Sick;Type: Type 2 (EN 61496). Safety integrity level: SIL1 (IEC 61508)_x000D_ Sick;SILCL1 (EN 62061)_x000D_ Sick;. Category: Category 2 (EN ISO 13849). Test rate (internal test): 13 /s (EN ISO 13849) 1). Maximum demand rate: ? 8 /min (EN ISO 13849) 2). Perform
Подробнее