г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

WSE9L-3P2437 Sick

Артикул
WSE9L-3P2437
Дополнительный Артикул
WSE9L3P2437
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик Features_x000D_ Sick;Sensor/detection principle: Through-beam photoelectric sensor. Dimensions (W x H x D): 12.2 mm x 52.2 mm x 23.6 mm. Housing design (light emission): Rectangular. Mounting hole: M3. Sensing range max.: 0 m ... 60 m. Sensing range: 0 m ... 50 m. Type of light: Visible red light. Light source: Laser 1). Light spot size (distance): O 1 mm (500 mm). Wave length: 650 nm. Laser class: 1 (IEC 60825-1 / CDRH 21 CFR 1040.10 & 1040.11). Adjustment: Single teach-in button_x000D_ Sick;1) Average service life: 5
Вес
0,09 кг
Теги
фотоэлектрический

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: DOL-2312-G30MMA2
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик (2029211)DOL-2312-G30MMA2 CBL ASSYCABLE ASSEMBLYM2312-PINSTRAIGHT WITH SCREENING30 M LENGTH SSI
Подробнее
Артикул: KT5G-2N1311
Бренд: Sick
Описание: Сканер (1015988)KT 5G-2N1311 CNTRAST SCANCONTRAST SENSOR, NPN OUTPUT, LENS 210 (40 MM), NO TIMING , 4-PIN M12
Подробнее
Артикул: 1062282
Бренд: Sick
Описание: Датчик LFP2000-B5NMCTDR LEVEL SENSOR LFP, PROBE 2000 MM, 3/4" NPT PROCESS CONNECTION, 4X PNP/NPN, 0.10V OR 0.20MA, M12, 8-PIN
Подробнее
Артикул: 1040892
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик IME08-04NPOZW2S / ADVANCED (2X) SNNON-FLUSHPNPNC2M CABLE
Подробнее
Артикул: 1019312
Бренд: Sick
Описание: Сканер CLV 490-2011 / LINE SCAN / HIGH DENSITY / SOFTWARE SELECTABLE HOST PORT RS 232422/485 WITH HEATER
Подробнее
Артикул: M40E042203RB0
Бренд: Sick
Описание: Датчик 4 BEAM220 MM BEAM SPACINGRECEIVERADVANCED
Подробнее