г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

WS27-2U830 Sick

Артикул
WS27-2U830
Дополнительный Артикул
WS272U830
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик PHOTOELECTIC SENSOR EMITTER 35M RNG 24-240V 5PIN
Вес
0,09 кг
Теги
Фотоэлектрика

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 9LP330S03
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик THROUGH-BEAM PHOTOELECTRICPNPRED LASER50M RANGE4-PIN M8ONNECTORWITH TEST INPUT
Подробнее
Артикул: WL100-2N1429
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (6052381)WL100-2N1429NPNRED LIGHT REFLEX SENSOR AND NO POLARIZATION FILTER FOR CLEAR MATERIAL DETECTION WITH A LO/DO ROTARY SWITCH AND POTENTIOMET
Подробнее
Артикул: 1050643
Бренд: Sick
Описание: Сканер CDM425-10234094 CONN. BOX / CDM425 PROFINET CONNECTION BOXSINGLE SCANNER CONNECTION
Подробнее
Артикул: DGS60C1L04096
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик
Подробнее
Артикул: IVC-3D41113
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик Features_x000D_ Sick;Task: Positioning, inspection, Measuring, Read. Technology: 3D, LineScan, image analysis. Working distance: 276 mm ... 1,147 mm 1). Example field of view: 300 mm x 1,000 mm. Light source: Visible red light (laser, 658 nm, ± 15 nm). Laser class: 2M, IEC 60825-1:2007. Width at minimum operating distance: 417 mm. Width at maximum operating distance: 1,297 mm. Maximum height range: 871 mm. Imaging angle: 60.5°. Offline support: Emulator_x000D_ Sick;1) The specified values are valid for single device in
Подробнее
Артикул: 1214421
Бренд: Sick
Описание: Датчик MLG10S-0890A10501MLG PRIME 10MM SPACING890 MM DETECTION HEIGHT2 X ANALOG + 1 X Q (IO-LINK)5M SENSING RANGESTANDARD CONFIGURATION
Подробнее