г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

WS25103 Sick

Артикул
WS25103
Дополнительный Артикул
WS25103
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик PHOTOELECTRIC
Вес
1,36 кг
Теги
фотоэлектрический

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: DGS66ASK01250
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик
Подробнее
Артикул: 3011113
Бренд: Sick
Описание: Датчик TEACH-INANALOGUE OUTPUT 4 .20 MA/0 .10 VPNPM125-PIN30-250 MM SENSING RANGE
Подробнее
Артикул: PHT-RB025SD30S0AFT0Z
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления (6039416)PHT-RB025SD30S0AFT0ZPHT FLEXIBLE PRESSURE TRANSMITTERGAUGE PRESSURE (RELATIVE)0 . 25 BARACCURACY +-0.5% OF SPANCLAMP DIN 32676 DN 32F
Подробнее
Артикул: 1047065
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик DS30-N1255 / DISTANCE MEASURING DEVICEPROXIMITY2M RANGE ON 6% BLACK3 NPN (BINARY CODED) TEACHABLEIR5-PIN M12
Подробнее
Артикул: 1046580
Бренд: Sick
Описание: Сканер OLM100-1005 / OPTICAL LINEAR MEASUREMENT ON BARCODE TAPERED LED0.10M MEASUREMENT RANGE1MM REPEATABILITY5MS OUTPUT RATE. RS485
Подробнее
Артикул: C40E-0902GY010
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Features_x000D_ Sick;Resolution: 20 mm. Protective field height: 900 mm. Scanning range: 0.5 m ... 19 m, configurable. Response time: ? 14 ms 1). Synchronization: Optical synchronisation_x000D_ Sick;1) Without beam coding, with 1 x sampling, no cascaded systems. Other response times see operating instructions._x000D_ Sick;Safety-related parameters_x000D_ Sick;Type: Type 4 (IEC 61496). Safety integrity level: SIL3 (IEC 61508)_x000D_ Sick;SILCL3 (EN 62061)_x000D_ Sick;. Category: Category 4 (EN ISO 13849). Performance level: PL e (EN ISO 13849). PFHD (mean probability
Подробнее