г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

WLG4-3F2132 Sick

Артикул
WLG4-3F2132
Дополнительный Артикул
WLG43F2132
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик (1028127)WLG4-3F2132 REFLEX CLEARCLEAR MATERIAL RETRO-REFLECTIVE PNP DO, RED LED, M8 3-PIN, TEACH BUTTON
Вес
0,03 кг
Теги
Фотоэлектрика

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 6038812
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления PFT-FRB010SF2OSSAMSSZPFT FLEXIBLE PRESSURE TRANSMITTER,GAUGE PRESSURE (RELATIVE), 0…10 BAR,ACCURACY +-0.5% OF SPAN,G1/2B FLUSH-MOUNTED WITH O-RING,F
Подробнее
Артикул: PL30-AP02
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик SENSOR REFLECTOR PHOTOELECTRIC
Подробнее
Артикул: DOL1212-G05M
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик (6035988)DOL-1212-G05M EXT. CABLEEXTENSION CABLE FOR OD PRECISION- USE WHEN SENSOR AS STAND ALON ONLY
Подробнее
Артикул: 2021597
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PHOTOELECTRIC
Подробнее
Артикул: VT182N4460
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PROXIMITY PHOTOELECTRIC
Подробнее
Артикул: M20E-03240A120
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Features_x000D_ Sick;Scanning range: 0 m ... 70 m, configurable. Low scanning range: 0 m ... 20 m. Great scanning range: 15 m ... 70 m. Number of beams: 3. Beam separation or resolution: 400 mm. Response time: 8 ms. Synchronization: Optical synchronisation_x000D_ Sick;Safety-related parameters_x000D_ Sick;Type: Type 2 (EN 61496). Safety integrity level: SIL1 (IEC 61508)_x000D_ Sick;SILCL1 (EN 62061)_x000D_ Sick;. Category: Category 2 (EN ISO 13849). Test rate (internal test): 13 /s (EN ISO 13849) 1). Maximum demand rate: ? 8 /min (EN ISO 13849) 2). Perfo
Подробнее