г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

WL190L-N430 REF Sick

Артикул
WL190L-N430 REF
Дополнительный Артикул
WL190LN430REF
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик WL190L-N430 REF(6026556)
Вес
1,36 кг
Теги
фотоэлектрический

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: LFP1300-G1NMB
Бренд: Sick
Описание: Датчик (1052078)LFP1300-G1NMBTDR LEVEL SENSOR LFP INOXPROBE 1300 MMG 3/4 PROCESS CONNECTION2X PNP/NPN0…10V OR 0…20MAM125-PIN
Подробнее
Артикул: DOL0612G05M075KM
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик (2022545) DOL-0612G05M075KM0
Подробнее
Артикул: 34V530
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик THROUGH-BEAM PHOTOELECTRICPNP/NPNRED60 M RANGEALARM5-N M12
Подробнее
Артикул: LBV310-XXANDCKNX
Бренд: Sick
Описание: Датчик (6038031)LBV310-XXANDCKNXLBV310 VIBRATING LEVEL SWITCH FOR BULK SOLIDSWITHOUT APPROVALSSTANDARD (150C)THREAD NPT1 1/2 (PN25316L)CONTACTLES
Подробнее
Артикул: 2032467
Бренд: Sick
Описание: Датчик 2 BEAM500 MM BEAM SPACINGLED CUTOUTW/ MOUNTING BRACKETSDEVICE COLUMN
Подробнее
Артикул: M20E-03140A120
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Features_x000D_ Sick;Scanning range: 0 m ... 25 m, configurable. Low scanning range: 0 m ... 6 m. Great scanning range: 2 m ... 25 m. Number of beams: 3. Beam separation or resolution: 400 mm. Response time: 8 ms. Synchronization: Optical synchronisation_x000D_ Sick;Safety-related parameters_x000D_ Sick;Type: Type 2 (EN 61496). Safety integrity level: SIL1 (IEC 61508)_x000D_ Sick;SILCL1 (EN 62061)_x000D_ Sick;. Category: Category 2 (EN ISO 13849). Test rate (internal test): 13 /s (EN ISO 13849) 1). Maximum demand rate: ? 8 /min (EN ISO 13849) 2). Perform
Подробнее