г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

WL182P030S03 Sick

Артикул
WL182P030S03
Дополнительный Артикул
WL182P030S03
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик PHOTOELECTRIC
Вес
1,36 кг
Теги
фотоэлектрический

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: DOS-7804-GK
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик (6030803)DOS-7804-GKAUXILIARY POWER 7/8" 4-PIN MINI FIELD ATTACHABLE CONNECTOR - FEMALE
Подробнее
Артикул: WTR2-P621B50-P10
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик 1043741 / WTR2-P621B50P10
Подробнее
Артикул: LFT1200-01A1A10
Бренд: Sick
Описание: Датчик TDR LEVEL SENSOR LFTCOAXIAL PROBE 1200 MM1X PNP + 4…20MAFIX HYSTERESIS 3MMSWITCHING OUTPUTS: NCM12X15-PINNO SPECIAL OPTIONS1043603
Подробнее
Артикул: WSWE1402F330
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (6024736)WS/WE140-2F330 THRU-BEAMTHROUGH-BEAM PEPNPDORED LEDM8 3-PIN
Подробнее
Артикул: MLG5-1450F212
Бренд: Sick
Описание: Датчик Features_x000D_ Sick;Technology: Sender/receiver. Minimum detectable object (MDO): Parallel beam, 55 mm 1). Beam separation: 50 mm. Number of beams: ? 30. Detection height: 1,450 mm. Configuration: Parameterization interface (measuring)_x000D_ Sick;1) MDO min. detectable object._x000D_ Sick;Performance_x000D_ Sick;Maximum range: 7 m 1). Minimum range: Parallel beam: ? 0 mm. Working range: 5 m. Response time: Parallel beam ? 5.5 ms 2)_x000D_ Sick;1) No reserve for environmental issue and deterioration of the diode._x000D_ Sick;2) With resistive load._x000D_ Sick;Interfaces_x000D_ Sick;Swit
Подробнее
Артикул: IM08-1B5NO-ZW1
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик (6020218)IM08-1B5NO-ZW1 INDUCTIVE1.5MM FLUSHNPNNCCABLE
Подробнее