г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

WL142P430P03 Sick

Артикул
WL142P430P03
Дополнительный Артикул
WL142P430P03
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик
Теги
фотоэлектрический

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: WTB4S-3F2162V
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (1046389)WTB4S-3F2162VPROXIMITY PEBGSPNPDARK OP.RED LEDM8 3-PINMETAL MEMBRANE TEACH
Подробнее
Артикул: OD2-P250W150AO
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик (6036648)OD2-P250W150AO DISPLACEMTDISPLACEMENT SENSOROD VALUE250MM +/- 150MMPNP M12 8-PIN RS42
Подробнее
Артикул: 6033957
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик WLL170T-2N192 FIBER AMP / FIBER-OPTIC PENPNGREENCABLEPUSH-BUTTON TEACHEXT. TEACH
Подробнее
Артикул: 1053927
Бренд: Sick
Описание: Сканер CLV630-6000F0CLV630-6000F0 OSCILLATING MIRROR HEATER
Подробнее
Артикул: LFV200-XASNATPM
Бренд: Sick
Описание: Серия LFV200 Features_x000D_ Sick;Medium: Fluids. Measurement: Switch. Probe length: 38 mm. Process pressure: –1 bar ... 64 bar. Process temperature: –40 °C ... +100 °C. Fill material density: ? 0.7 g/cm?. WHG approval: ?. Authorizations: WHG approval_x000D_ Sick;Performance_x000D_ Sick;Accuracy of sensor element: ± 2 mm. Repeatability: ? 1 mm. Viscosity: 0.1 mPas ... 10,000 mPas. Resolution: ? 1 mm. Response time: 500 ms_x000D_ Sick;Electronics_x000D_ Sick;Supply voltage: 10 V DC ... 55 V DC. Residual ripple: ? 5 Vpp. Power consumption: < 10 mA. Initialization time:
Подробнее
Артикул: 6041881
Бренд: Sick
Описание: Датчик LFV230-XXSNBTPM2100LFV230 VIBRATING LEVEL SWITCH WITH TUBE EXTENSION, XX WITHOUT APPROVALS, STANDARD (100C), THREAD NPT3/4 (PN64, 316L), STAINLESS S
Подробнее