г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

WL100L-F2131 Sick

Артикул
WL100L-F2131
Дополнительный Артикул
WL100LF2131
Бренд
Sick
Описание
Лазерный датчик (6030709)WL100L-F2131 PE REFLEXRETRO-REFLECTIVE PERED LASERPNPLO/DO M8 3-PIN
Вес
0,06 кг
Теги
Фотоэлектрика

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 6028663
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик DSL-1203-G03MC / EXTENSIONM12FEMALE4-PINSTR. -TO- M12MALE3-PINSTR.PURBLK3MPIN 2 N.C.
Подробнее
Артикул: 6038192
Бренд: Sick
Описание: Датчик LBV330-XXANDRANX2200LBV330 VIBRATING LEVEL SWITCH FOR BULK SOLIDS WITH TUBE EXTENSION, WITHOUT APPROVALS,THREAD NPT1 1/2 (PN25, 316L), RELAY (DPDT)
Подробнее
Артикул: 1027481
Бренд: Sick
Описание: Датчик 1500 MM HEIGHT30 MM BEAM RESOLUTIONRECEIVER0-6M RANGEECO
Подробнее
Артикул: LFP2000-A5NMC
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления Features_x000D_ Sick;Medium: Fluids. Measurement: Switch, Continuous. Design: Standard. Probe type: Mono rod probe. Probe length: 2,000 mm. Process pressure: –1 bar ... 10 bar. Process temperature: –20 °C ... +100 °C. GOST approval: ?. RoHS certificate: ?. IO-Link: ?. CULus certificate: ?_x000D_ Sick;Performance_x000D_ Sick;Accuracy of sensor element: ± 5 mm 1). Repeatability: ? 2 mm. Resolution: < 2 mm. Response time: < 400 ms. Dielectricity constant: ? 5 for mono rod probe / rope probe_x000D_ Sick;? 1.8 with coaxial tube_x000D_ Sick;. Conductivity: No
Подробнее
Артикул: WSE4SC-3P2230
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (1067767)WSE4SC-3P2230PNPLO/DOTHRU-BEAM SENSOR WITH MANY IO-LINK FUNCTIONS AND AN M8 4-PIN PLUG.
Подробнее
Артикул: IM0802BPSZWF
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик
Подробнее