г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

WEU-26/2-120 Sick

Артикул
WEU-26/2-120
Дополнительный Артикул
WEU262120
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик SICK WEU26/2-120 - PHOTOEYE
Вес
1,32 кг
Теги
Световые занавесы

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: PBT-AP150SN1SS0AMA0V
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления (6056425)PBT-AP150SN1SS0AMA0VPBT PRESSURE TRANSMITTERABSOLUTEPSI0 . 150 PSI ABS (OVER PRESSURE SAFETY: 290 PSI ABS)LESS THAN OR EQUAL TO +/-
Подробнее
Артикул: VTE18-4P2412
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (6013441)VTE18-4P2412 PROX 200 MMMTL RA PNP 2M CBL L/D POT
Подробнее
Артикул: VS/VE18-2T1132
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик VS/VE18-2T1132(6021162)
Подробнее
Артикул: OD1-B100H50U25
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Performance_x000D_ Sick;Measuring range: 50 mm ... 150 mm. Resolution: 20 µm 1). Repeatability: 30 µm 1) 2). Linearity: ± 100 µm 3) 4). Response time: 2 ms / 4 ms / 8 ms / 16 ms / auto 5). Measuring frequency: 2 kHz / 1 kHz / 500 Hz / 250 Hz / automatic. Light source: Laser, red. Laser class: 1 (EN 60825-1) 6). Typ. light spot size (distance): 700 µm x 600 µm (100 mm). Additional function: Averaging 1 … 512x, automatic or manual sensitivity adjustment, Analog outputs can be taught in, Switching outputs can
Подробнее
Артикул: ICR8502Z1920S06
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик 1042883 - ADVANCED GAMMA CORRECTIONFOCUS POSITION 533MM RS232/422/485ETHERNET TCP/IP
Подробнее
Артикул: 1043639
Бренд: Sick
Описание: Датчик TDR LEVEL SENSOR LFTCOAXIAL PROBE 1000 MM2X PNP + 4…20MAFIX HYSTERESIS 3MMSWITCHING OUTPUTS: NCM12X18-PINNO SPECIAL OPTIONS
Подробнее