г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

WE242B240 Sick

Артикул
WE242B240
Дополнительный Артикул
WE242B240
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик PHOTOELECTRIC 50M/RANGE 10-30VDC
Вес
0,36 кг
Теги
Фотоэлектрика

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 1029231
Бренд: Sick
Описание: Лазерный датчик RULER E1211 / RULER E1200 H - 2M LASERHEATING ELEMENTS1024 X 512 SENSOR
Подробнее
Артикул: WTR1-P421A10-P03
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (7125298)WTR1-P421A10P03WTR 1-P421A10 AND SHORT BRACKET ASSEMBLY FOR CONVEYOR UPGRADES
Подробнее
Артикул: 7029112
Бренд: Sick
Описание: Датчик расстояния WTR1-P421A30 / WTR 1-P421A10 WITH SENSING DISTANCE PRESET TO 13"
Подробнее
Артикул: VTE180-2P42482
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (6041811)VTE180-2P42482PROXIMITY PEENERGETIC800MMSTRAIGHTMETAL HOUSINGPNPM12
Подробнее
Артикул: DBS36E-S8EK01000
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик (1072664)DBS36E-S8EK01000DBS36E-S8EK010005VTTL1000PPR1.5M CABLE
Подробнее
Артикул: MLG1-0440F511
Бренд: Sick
Описание: Датчик Features_x000D_ Sick;Technology: Sender/receiver. Minimum detectable object (MDO): Parallel beam, 15 mm 1). Beam separation: 10 mm. Number of beams: ? 45. Detection height: 440 mm. Configuration: Standard (switching)_x000D_ Sick;1) MDO min. detectable object._x000D_ Sick;Performance_x000D_ Sick;Maximum range: 7 m 1). Minimum range: Parallel beam: ? 0 mm. Working range: 5 m. Response time: Parallel beam ? 7.75 ms 2)_x000D_ Sick;1) No reserve for environmental issue and deterioration of the diode._x000D_ Sick;2) With resistive load._x000D_ Sick;Interfaces_x000D_ Sick;Switching output: 1 x P
Подробнее