г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

WE160-P142 Sick

Артикул
WE160-P142
Дополнительный Артикул
WE160P142
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик PHOTOELECTRIC 10-30VDC THROUGH-BEAM
Вес
0,05 кг
Теги
Фотоэлектрика

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: BAS351-11000
Бренд: Sick
Описание: Сканер (1073133)BAS351-11000SYSTEM CONTAINS TIM351 SCANNER WITH ADJUSTABLE FIELDS12VDC-24VDC POWER CONDITIONER(2) 24V RELAYSBUZZERCLAMPSDIN RAIL
Подробнее
Артикул: LFP0300-B4DMB
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления (1071104)LFP0300-B4DMB, LFP CUBIC TDR LEVEL TRANSMITTER, 0300 MM, 3/4" NPT / EXCHANGEABLE PROBE, 1.4404/316L100 C10 BAR, PLASTIC HOUSING WITH DISP
Подробнее
Артикул: DOL-MS23-G1M5MA2
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик (7102109)DOL-MS23-G1M5MA2CABLE ASSEMBLYMS 3116 23-PINSTRAIGHT WITH SCREENING1.5 M LENGTH
Подробнее
Артикул: DOL0607G15M075KM
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик DOL-0607G15M075KM0
Подробнее
Артикул: 1012967
Бренд: Sick
Описание: Сканер BAR CODE SCANNER 24VDC 7.5W RS422/RS485
Подробнее
Артикул: MLG10A-0440B10801
Бренд: Sick
Описание: Датчик Features_x000D_ Sick;Version: Pro. Technology: Sender/receiver. Minimum detectable object (MDO): 10 mm, 14 mm 1) 2) 3). Beam separation: 10 mm. Number of beams: ? 45. Detection height: 440 mm. Software features: Qa1: Number of broken beams_x000D_ Sick;Qa2: height measurement (last beam)/LBB_x000D_ Sick;Q1: presence detection_x000D_ Sick;Q2 / IN: Teach-in_x000D_ Sick;Teach: Standard mode_x000D_ Sick;1) MDO min. detectable object at high measurement accuracy._x000D_ Sick;2) MDO min. detectable object for standard measurement accuracy._x000D_ Sick;3) Depending on beam separation without cross
Подробнее

Ваша заявка принята