г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

VL182P1460S01 Sick

Артикул
VL182P1460S01
Дополнительный Артикул
VL182P1460S01
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик REFLEX PHOTOELECTRICPOL
Вес
1,36 кг
Теги
фотоэлектрический

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 2011562
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик LM 18-1300 FIBER OPTICFIBER OPTIC, THROUGH-BEAM, RIGHT-ANGLE TIP,PARALLEL LIGHT SPOT,300 MM LONG, FOR NTL 6
Подробнее
Артикул: 1025249
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик DME 5000-123 DIST MEAS / DISTANCE MEASURING DEVICEREFLEX70M RS422 HEAT
Подробнее
Артикул: 6041853
Бренд: Sick
Описание: Датчик LFV230-XXSNBTPM0500LFV230 VIBRATING LEVEL SWITCH WITH TUBE EXTENSION, XX WITHOUT APPROVALS, STANDARD (100C), THREAD NPT3/4 (PN64, 316L), STAINLESS S
Подробнее
Артикул: DOL-4J08-G0M2XB1
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик (2040147)DOL-4J08-G0M2XB1 SKXCABLE CONNECTOR ASSY
Подробнее
Артикул: 6008921
Бренд: Sick
Описание: Датчик VL180-S132 REFLEX SWITCH
Подробнее
Артикул: MLG10A-0440B10801
Бренд: Sick
Описание: Датчик Features_x000D_ Sick;Version: Pro. Technology: Sender/receiver. Minimum detectable object (MDO): 10 mm, 14 mm 1) 2) 3). Beam separation: 10 mm. Number of beams: ? 45. Detection height: 440 mm. Software features: Qa1: Number of broken beams_x000D_ Sick;Qa2: height measurement (last beam)/LBB_x000D_ Sick;Q1: presence detection_x000D_ Sick;Q2 / IN: Teach-in_x000D_ Sick;Teach: Standard mode_x000D_ Sick;1) MDO min. detectable object at high measurement accuracy._x000D_ Sick;2) MDO min. detectable object for standard measurement accuracy._x000D_ Sick;3) Depending on beam separation without cross
Подробнее