г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

VE184N3340 Sick

Артикул
VE184N3340
Дополнительный Артикул
VE184N3340
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик
Теги
фотоэлектрический

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: PFT-SRB600SG1SSAVMSSZ
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления (6038756)PFT-SRB600SG1SSAVMSSZPFT FLEXIBLE PRESSURE TRANSMITTERGAUGE PRESSURE (RELATIVE)0…600 BARACCURACY +-0.5% OF SPANG1/4A ACC. TO DIN3852-E
Подробнее
Артикул: 6039775
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления PBS-AB016SG1SSNAMA0ZPBS ELECTRONIC PRESSURE SWITCH WITH DISPLAY,ABSOLUTE PRESSURE, 0…16 BAR,ACCURACY +-1% OF SPAN,G1/4A ACC. TO DIN3852-E,STANDARD,P
Подробнее
Артикул: KT8L-P3656
Бренд: Sick
Описание: Лазерный датчик Features_x000D_ Sick;Dimensions (W x H x D): 30.4 mm x 53 mm x 80 mm. Sensing distance: 150 mm 1). Housing design (light emission): Rectangular. Light source: Laser, Red 2). Wave length: 655 nm. Light emission: Long side of housing. Light spot size: O 0.3 mm 3). Light spot direction: Round. Operating distance: 30 mm ... 800 mm 4). Adjustment: Teach-in button. Teach-in mode: Static 2-point teach-in_x000D_ Sick;Dynamic teach-in (min/max)_x000D_ Sick;. Function: Automatic drift correction_x000D_ Sick;1) From front edge of lens._x000D_ Sick;2) Average servic
Подробнее
Артикул: 250150P850
Бренд: Sick
Описание: Датчик DISPLACEMENT SENSOR OD-HI SENSING RANGE 250MM +/- 150MM PNP M12PIN
Подробнее
Артикул: 6012066
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PHOTOELECTRIC SLOT SENSORPNP/NPNIR500 HZ50 MM SLOT4-PIN M8 CONNECTOR REPLACED BY 6028440
Подробнее
Артикул: WL11B560P02
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик
Подробнее