г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

UE10-3OS3DO Sick

Артикул
UE10-3OS3DO
Дополнительный Артикул
UE103OS3DO
Бренд
Sick
Описание
Ультразвуковые Датчик SAFETY RELAY FOR ALL AOPDS WITH EDM = ONPLUGGABLE TERMINALS3 SAFE / 1 AUX OUTPUTS
Вес
0,28 кг
Теги
Реле безопасности

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 1018458
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PROXIMITY PHOTOELECTRICNPNREDLIGHT OP.4 . . . 35 MM ABS2M CABLECLEAR MATERIAL DETECTIONPHASEOUT TO 1028115
Подробнее
Артикул: 2000B1122
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик THROUGH-BEAM PHOTOELECTRICPNP/NPNIR30 M RANGETEST INPUTALARMON/OFF DELAYS2 M CABLE
Подробнее
Артикул: DOL-0803-W10M
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик (6022012)DOL-0803-W10MCORDSETM8FEMALE3-PINRIGHT-ANGLEPVCORANGE10M
Подробнее
Артикул: DFS60B-BDEA04000
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик DFS60B-BDEA04000(1038021)
Подробнее
Артикул: MLG1-1340F212
Бренд: Sick
Описание: Датчик (1023582)MLG 1-1340F212 LIGHTGRIDHEIGHT 1340MM/BEAM SPACING 10MM, 6X PNP, 2 INPUTS, RANGE 5M, PROGRAMMABLE
Подробнее
Артикул: DL100-22AA2101
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Performance_x000D_ Sick;Measuring range: 0.15 m ... 200 m, on reflective tape "Diamond Grade". Resolution: 0.1 mm, 0.125 mm, 1 mm, 10 mm, 100 mm. Repeatability: 1 mm 1). Accuracy: ± 2.5 mm 2). Dead time: 2 ms. Internal measurement cycle: 1 ms. Output time: Synchronous to PLC request (dependent on interfaces). Light source: Laser, red 3). Laser class: 2 (EN 60825-1 / CDRH). Typ. light spot size (distance): 5 mm (+ 2 mm x distance in m). Max. movement speed: 30 m/s. Acceleration (max.): ? 15 m/s?_x000D_ Sick;1) Statistic
Подробнее