г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

SGS4-S124P3PS2W00 Sick

Артикул
SGS4-S124P3PS2W00
Дополнительный Артикул
SGS4S124P3PS2W00
Бренд
Sick
Описание
Датчик (1047815)SGS4-S124P3PS2W0040MM RESOLUTIONSLIM124CM TALLPNP3M RANGEM8 PIGTAILNT BEAM CODEDWITH STABILIZERWITHOUT TEACH BUTTON
Вес
1,36 кг

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: PHT-RBX25S540S0ALS0Z
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления (6039368)PHT-RBX25S540S0ALS0ZPHT FLEXIBLE PRESSURE TRANSMITTERGAUGE PRESSURE (RELATIVE)0 . 025 BARACCURACY +-0.5% OF SPANFEMALE UNION NUT DIN
Подробнее
Артикул: 6037675
Бренд: Sick
Описание: Серия UM30 UM30-212114 / 2 NPN60.600MM RANGEM12 5PIN
Подробнее
Артикул: DOL-2312-G05MHA1
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик (2059786)DOL-2312-G05MHA1
Подробнее
Артикул: M40E-60A503RB0
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Features_x000D_ Sick;Resolution: 14 mm. Protective field height: 300 mm. Scanning range: 0 m ... 8 m Response timeWith beam coding: ? 12 ms Without beam coding: ? 10 ms . Synchronization: Optical synchronisation_x000D_ Sick;Safety-related parameters_x000D_ Sick;Type: Type 4 (IEC 61496). Safety integrity level: SIL3 (IEC 61508)_x000D_ Sick;SILCL3 (EN 62061)_x000D_ Sick;. Category: Category 4 (EN ISO 13849). Performance level: PL e (EN ISO 13849). PFHD (mean probability of a dangerous failure per hour): 2.8 x 10-8 (EN ISO 13849). TM (mission time): 20 year
Подробнее
Артикул: 6036647
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик OD2-P250W150CO DISPLACEMT / DISPLACEMENT SENSOROD VALUE250MM +/- 150MMPNP M12-8P 2 X
Подробнее
Артикул: WSWE24B2331
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик THROUGH-BEAM PHOTOELECTRI
Подробнее