г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

SAS4-F060P3PS1T00 Sick

Артикул
SAS4-F060P3PS1T00
Дополнительный Артикул
SAS4F060P3PS1T00
Бренд
Sick
Описание
Оптический датчик Features_x000D_ Sick;Technology: Sender/receiver. Minimum detectable object (MDO): Parallel beam, 45 mm. Beam separation: 40 mm. Optical light exit: Flat. Number of beams: ? 16. Detection height: 600 mm. Configuration: Teach button with configuration software. Cross beam/parallel beam: Parallel beam active. Output 1: Output 1 active, if light beam interrupted. Automatic teach: Automatic teach inactive. Alignment aid: Without alignment aid. Muting function: Muting function deactivated_x000D_ Sick;Performance_x000D_ Sick;Maximum ran
Вес
1,36 кг

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: VT18E410
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PROX SWITCH
Подробнее
Артикул: 6052409
Бренд: Sick
Описание: Датчик WT100-2P0409S45PNPBRIGHT LIGHT PROXIMITY SENSORWITH A LO/DO ROTARY SWITCH AND POTENTIOMETER300MM PIGTAIL M8 4-PINWITH 1 BRACKET
Подробнее
Артикул: 1055447
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик IQ10-03BPSKW2S3MM FLUSH, PNP, NO, CABLE
Подробнее
Артикул: 1071046
Бренд: Sick
Описание: Датчик HL18-M5B3AARETRO-REFLECTIVE, RED (PINPOINT)POLARIZED, SENSING RANGE = 0.03.6.5M, 21.6.250 VDC / 96.250 VAC , Q1 = MOSFETDARK OPERATE (DO), MICRO (
Подробнее
Артикул: VL18-4P3312 PHO
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик VL18-4P3312 PHO(6013567)
Подробнее
Артикул: 6041915
Бренд: Sick
Описание: Датчик LFV230-XXTGBTPM0800LFV230 VIBRATING LEVEL SWITCH WITH TUBE EXTENSION, XX WITHOUT APPROVALS, TEMPERATURE ENHANCED (150C), THREAD G3/4A (PN64, 316L),
Подробнее