г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

PHT-RB6X0S640S0AMS0Z Sick

Артикул
PHT-RB6X0S640S0AMS0Z
Дополнительный Артикул
PHTRB6X0S640S0AMS0Z
Бренд
Sick
Описание
Датчик давления (6039330)PHT-RB6X0S640S0AMS0ZPHT FLEXIBLE PRESSURE TRANSMITTERGAUGE PRESSURE (RELATIVE)0 . 6 BARACCURACY +-0.5% OF SPANFEMALE UNION NUT DIN 118
Вес
1,36 кг
Теги
Датчик давления

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: DS60-P41211
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик 1016691 - PROXIMITY PHOTOTELECTRICPNPRED12MM LIGHT SPOT6M ABS10HZ5-PIN M12 CONNECTOR
Подробнее
Артикул: 1012918
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик THROUGH-BEAM PHOTOELECTRICPNPRED12 M RANGE6-PIN SQUARE PLUG
Подробнее
Артикул: 1060390
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик DL100-23AA2109DISTANCE MEASURING DEVICE, REFLEX, 150MM - 200M, CAN OPEN
Подробнее
Артикул: WL18-N630
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик REFLEX PHOTOELECTRICPOLARIZEDREDNPN0...4.5
Подробнее
Артикул: PM2S1330430040
Бренд: Sick
Описание: Датчик 4 BEAM300 MM BEAM SPACINGMIRROR COLUMN
Подробнее
Артикул: PSD01-1501
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Features_x000D_ Sick;Scanning range: 0.5 m ... 7.5 m. Number of beams: 2. Beam separation: 500 mm. Response time: 10 ms. Synchronization: Optical synchronisation_x000D_ Sick;Safety-related parameters_x000D_ Sick;Type: Type 4 (IEC 61496). Safety integrity level: SIL3 (IEC 61508)_x000D_ Sick;SILCL3 (EN 62061)_x000D_ Sick;. Category: Category 4 (EN ISO 13849). Performance level: PL e (EN ISO 13849). PFHD (mean probability of a dangerous failure per hour): 6.6 x 10-9 (EN ISO 13849). TM (mission time): 20 years (EN ISO 13849). Safe state in the event of a fau
Подробнее