г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

OD2-P50W10AO Sick

Артикул
OD2-P50W10AO
Дополнительный Артикул
OD2P50W10AO
Бренд
Sick
Описание
Оптический датчик (6036600)OD2-P50W10AO DISPLACEMENTDISPLACEMENT SENSOROD VALUE50MM +/- 10MMPNPRS422 / 1 X OUTPUTM12 8-PIN CONNECTOR
Вес
4,53 кг

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 1017566
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик IM08-02BPS-ZWB (1017566)
Подробнее
Артикул: M40P-043013RB0
Бренд: Sick
Описание: Лазерный датчик (7123690)M40P-043013RB04 BEAM300 MM BEAM SPACING: PAIR - LASER ALIGNMENT AIDADVANCED
Подробнее
Артикул: IME30-15BDSZY2S
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик (1068264)IME30-15BDSZY2SADVANCED (2X) SNFLUSHDC 2-WIRENO2M CABLE
Подробнее
Артикул: 6050754
Бренд: Sick
Описание: Серия LFV200 LFV200-XASGHTPMLFV200 TUNING FORK LEVEL SWITCHWHG APPROVALSTANDARD -40.+100 DEG CG 1/2 APN 64 / 316LTRANSISTER OUTPUT PNP10.55 V DC1.440
Подробнее
Артикул: SPL-S120PPS1W04
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Features_x000D_ Sick;Technology: Sender/receiver. Minimum detectable object (MDO): Parallel beam, 45 mm. Beam separation: 40 mm. Optical light exit: Slim. Number of beams: ? 4. Detection height: 120 mm. Configuration: Without teach button with configuration software. Cross beam/parallel beam: Parallel beam active. Output 1: Output 1 active, if light beam interrupted. Automatic teach: Automatic teach active. Alignment aid: Without alignment aid. Muting function: Muting function deactivated_x000D_ Sick;Performance_x000D_ Sick;Maximu
Подробнее
Артикул: 7028640
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик REFLEX PHOTOELECTRICREDNPNLIGHT SWITCHINGIP67M8ALARM
Подробнее