г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

NT8-04 Sick

Артикул
NT8-04
Дополнительный Артикул
NT804
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик PHOTOELECTRIC CONTRAST SENSOR 10-30VDC
Вес
0,46 кг
Теги
Фотоэлектрика

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: DOL-0803-W05MC
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик (6025892)DOL-0803-W05MC CABLECORDSETM8FEMALE3-PINRIGHT-ANGLEPURBLACK5M
Подробнее
Артикул: 1015100
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик REFLEX PHOTOELECTRICPOLARIZEDPNPRED14 M RANGE PL 80ACABLE 2 M PHASEOUT TO 1027768
Подробнее
Артикул: LBV310-XXBNDCKMX
Бренд: Sick
Описание: Датчик (6038076)LBV310-XXBNDCKMXLBV310 VIBRATING LEVEL SWITCH FOR BULK SOLIDSWITHOUT APPROVALSTEMPERATURE ENHANCED (250C)THREAD NPT1 1/2 (PN25316L)
Подробнее
Артикул: WL27-3S1531
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик Features_x000D_ Sick;Sensor/detection principle: Photoelectric retro-reflective sensor, Dual lens. Dimensions (W x H x D): 24.6 mm x 80.6 mm x 54 mm. Housing design (light emission): Rectangular. Sensing range max.: 0.1 m ... 15 m 1). Sensing range: 0.1 m ... 11 m 1). Type of light: Visible red light. Light source: LED 2). Light spot size (distance): O 220 mm (10 m). Angle of dispersion: Approx. 1.5°. Wave length: 660 nm. Adjustment: Potentiometer_x000D_ Sick;1) PL80A._x000D_ Sick;2) Average service life: 100,000 h at TU = +25 °C.
Подробнее
Артикул: WL34-V530
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (1019247)WL34-V530RETRO-REFLECTIVE PEPOLARIZEDPNP/NPNRED5-PIN M12ALARM
Подробнее
Артикул: VTE18-4P1440
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PROXIMITY SWITCH 5-400MM RANGE PNP 100MA M12 4PIN
Подробнее