г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

MLG1-0590I212 Sick

Артикул
MLG1-0590I212
Дополнительный Артикул
MLG10590I212
Бренд
Sick
Описание
Датчик (1023979)MLG 1-0590I212 LIGHTGRIDHEIGHT 590MM/BEAM SPACING 10MM, RS485, 4X PNP OUTPUTS, 2 INPUTSRANGE 5M, PROGRAMMABLE
Вес
4,53 кг

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: WE45P950
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик THROUGH-BEAM PHOTOINDIVIDUAL RECEIVERPNPHEATED LENS1/2 NCH NPSM CONDUIT CONNECTOR
Подробнее
Артикул: WL92P331
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик REFLEX PHOTOELECTRICPOLARIZEDREDPNP0...4 M RANGE PL 80 ATEACH-IN4-PIN M8
Подробнее
Артикул: 6021575
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик IM05-0B8PS-ZWB INDUC / 0.8MM FLUSHPNPNO5M CABLE
Подробнее
Артикул: 6044747
Бренд: Sick
Описание: Датчик WSE280-2H4331THROUGH-BEAM PE, AC, SPDT, RED, TERMINAL CHAMBER, EN61000-6-3, NO UL, BRACKET INCLUDED
Подробнее
Артикул: WLL24X2301
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик FIBER PHOTOELECTRICNAMURREDPG 9 CABLE ENTRY
Подробнее
Артикул: LFV310-XXGAVXPTX
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления Features_x000D_ Sick;Medium: Fluids. Measurement: Switch. Probe length: 66 mm. Process pressure: –1 bar ... 64 bar. Process temperature: –50 °C ... +150 °C. Fill material density: 0.5 g/cm? ... 2.5 g/cm?. GOST approval: ?_x000D_ Sick;Performance_x000D_ Sick;Accuracy of sensor element: ± 2 mm. Repeatability: ? 1 mm. Viscosity: 0.1 mPas ... 10,000 mPas. Response time: 500 ms_x000D_ Sick;Electronics_x000D_ Sick;Residual ripple: ? 5 Vpp. Power consumption: < 10 mA. Initialization time: < 2 s. VDE protection class 2: ?. Electrical connection: M20 x 1.5. Suppl
Подробнее