г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

MLG1-0590F811 Sick

Артикул
MLG1-0590F811
Дополнительный Артикул
MLG10590F811
Бренд
Sick
Описание
Датчик (1041245)MLG1-0590F811590X10MMPNPM128 PIN5MBEAM ANGLE +/- 3.6 DEGREESSTANDARD
Вес
4,53 кг

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: WE140P330
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик
Подробнее
Артикул: 540B416
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PHOTOELECTRIC SLOT SENSORPNP/NPNIR5MM SLOT WIDTH40MM DE4-PIN M8 CONNECTORTEACH-IN
Подробнее
Артикул: 1072602
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик IMB30-15BPSVC0S15MM RANGESHIELDEDPNPNORMALLY OPENM12 4-PIN CONNECTORSTANDARD HOUSING LENGTH
Подробнее
Артикул: 6038050
Бренд: Sick
Описание: Датчик LBV310-XXANDNANXLBV310 VIBRATING LEVEL SWITCH FOR BULK SOLIDS, WITHOUT APPROVALS, STANDARD (150C), THREAD NPT1 1/2 (PN25, 316L), NAMUR SIGNAL, ALUMI
Подробнее
Артикул: 1072691
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик IMB08-02BPSVT0K2MM RANGESHIELDEDPNPNORMALLY OPENM8 3-PIN CONNECTORSHORT HOUSING LENGTH
Подробнее
Артикул: FLN-OSSD1100108
Бренд: Sick
Описание: Датчик Safety-related parameters_x000D_ Sick;Safety integrity level: SIL3 (IEC 61508)_x000D_ Sick;SILCL3 (EN 62061)_x000D_ Sick;. Category: Category 4 (EN ISO 13849). Performance level: PL e (EN ISO 13849). PFHD (mean probability of a dangerous failure per hour): 0.76 x 10-9 (EN ISO 13849). TM (mission time): 20 years (EN ISO 13849)_x000D_ Sick;Functions_x000D_ Sick;Diagnostic and monitoring functionsCross-circuit: Monitoring via OSSD device Short-circuit: Monitoring via OSSD device Discrepancy errors: Monitoring via Flexi Loop node Sequence errors: Monitoring
Подробнее