г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

LUT1B-11325 Sick

Артикул
LUT1B-11325
Дополнительный Артикул
LUT1B11325
Бренд
Sick
Описание
Датчик расстояния Features_x000D_ Sick;Dimensions (W x H x D): 23 mm x 70 mm x 47.5 mm. Sensing distance: 50 mm 1). Housing design (light emission): Rectangular. Operating range: 15 mm ... 60 mm. Light source: LED, Blue 2). Wave length: 470 nm. Light emission: Long side. Light spot size: 5 mm x 5 mm. Receiving filters: OG 590. Receiving range: 590 nm ... 750 nm. Adjustment: Double teach-in button. Output function: Light switching_x000D_ Sick;1) From front edge of lens._x000D_ Sick;2) Average service life: 100,000 h at TU = +25 °C._x000D_ Sick;Mechanics/electro
Теги
Разное(датчики и переключатели)

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: PBS-RP100SGESSCBMA0Z
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления (6054719)PBS-RP100SGESSCBMA0ZELECTRONIC PRESSURE SWITCHPRESSURE TRANSMITTER AND DISPLAYGAUGEPSI0 . 100 PSI (OVER PRESSURE SAFETY: 200 PSI)
Подробнее
Артикул: CM30-16BPK-W1
Бренд: Sick
Описание: Датчик PROXIMITY SENSOR
Подробнее
Артикул: MLG3-3120F822
Бренд: Sick
Описание: Датчик (1025597)MLG 3-3120F822 LIGHTGRIDHEIGHT 3120/BEAM SPACING 30MM3XPNP1X INPUTRANGE 8.5MPROGRAMMABLE
Подробнее
Артикул: VTE18L-3F324 PHO
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик VTE18L-3F324 PHO(6027594)
Подробнее
Артикул: 1200057
Бренд: Sick
Описание: Лазерный датчик 2 BEAM500 MM BEAM SPACING: SENDER - LASER ALIGNMENT AIDADVANCED
Подробнее
Артикул: 1043604
Бренд: Sick
Описание: Датчик TDR LEVEL SENSOR LFTCOAXIAL PROBE 1300 MM1X PNP + 4…20MAFIX HYSTERESIS 3MMSWITCHING OUTPUTS: NCM12X15-PINNO SPECIAL OPTIONS
Подробнее