г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: с 9-00 до 21-00
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

LFT1600-01B1A60W00 Sick

Артикул
LFT1600-01B1A60W00
Дополнительный Артикул
LFT160001B1A60W00
Бренд
Sick
Описание
Датчик (1045885)LFT1600-01B1A60W00TDR LEVEL SENSOR LFTCOAXIAL PROBE 1600 MM2X PNP + 4…20MAPROGRAMMABLE HYSTERESISSWITCHING OUTPUTS: NCM12X18-PI

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 7023221
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик LISTA323600 LIGHT GUIDE / GLASS/STAINLESS FIBER-OPTICINDIVIDUALTHREAD/ANGLE TIP3.2MM BUNDLE3600MM
Подробнее
Артикул: LFPCT-2000G1
Бренд: Sick
Описание: Датчик (2065703)LFPCT-2000G1COAXIAL TUBE FOR G3/4 LFPPROCESS CONNECTION OF TUBE G3/4PROBE LENGTH 2000MM
Подробнее
Артикул: DGS34-7LK01024
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик SICK OPTIC ELECTRONIC
Подробнее
Артикул: LFP0500-N1NMB
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления Features_x000D_ Sick;Medium: Fluids. Measurement: Switch, Continuous. Design: Standard. Probe length: 500 mm. Process pressure: –1 bar ... 16 bar. Process temperature: –20 °C ... +150 °C. GOST approval: ?. UL approval: ?. RoHS certificate: ?. IO-Link: ?. EHEDG approval: ?_x000D_ Sick;Performance_x000D_ Sick;Accuracy of sensor element: ± 5 mm. Repeatability: ? 2 mm. Resolution: < 2 mm. Response time: < 400 ms 1). Dielectricity constant: ? 5 for mono probe_x000D_ Sick;? 1.8 with coaxial tube_x000D_ Sick;. Conductivity: No limitation. Deactivated area at en
Подробнее
Артикул: VT-2000T11385902G
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PHOTOELECTRIC
Подробнее
Артикул: 1043609
Бренд: Sick
Описание: Датчик TDR LEVEL SENSOR LFTCOAXIAL PROBE 1800 MM1X PNP + 4…20MAFIX HYSTERESIS 3MMSWITCHING OUTPUTS: NCM12X15-PINNO SPECIAL OPTIONS
Подробнее