г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

LBSAT45322000 Sick

Артикул
LBSAT45322000
Дополнительный Артикул
LBSAT45322000
Бренд
Sick
Описание
Оптический датчик (7022758)LBSAT45322000 LT GUIDEGLASS/STAINLESS FIBER-OPTICBIFURCATED45 DEGREE ANGLE/THREAD TIP3.2MM BUNDLE2032MM
Вес
1,36 кг

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: WT34-V540
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (1019238)WT34-V540PROXIMITY PEBGSPNP/NPNRED5-PIN M12ALARM
Подробнее
Артикул: 1064718
Бренд: Sick
Описание: Сканер CLV640-6831S01 IP69KCLV640-6831S01 IP69K
Подробнее
Артикул: IME18-05BPSZC0S
Бренд: Sick
Описание:

Индуктивный датчик (1040934)IME18-05BPSZC0SSTANDARD (1X) SNFLUSHPNPNOM12 CONNECTOR

Подробнее
Артикул: PBT-RM010AG1SSNVMC0Z
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления (6042014)PBT-RM010AG1SSNVMC0ZPRESSURE TRANSMITTER PBTGAUGE PRESSURE (RELATIVE)0…10 MPANON-LINEARITY +-0.25% OF SPAN (BFSL)G1/4A ACC. TO DIN3852
Подробнее
Артикул: DRS60AAA00400
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик
Подробнее
Артикул: UE11-4DX3D31
Бренд: Sick
Описание: Ультразвуковые Датчик Safety-related parameters_x000D_ Sick;Safety integrity level: SIL2 (IEC 61508) 1)_x000D_ Sick;SILCL2 (EN 62061) 1)_x000D_ Sick;. Category: Category 3 (EN ISO 13849) 1). Performance level: PL d (EN ISO 13849) 1). B10d parameter: 1 x 106 switching cycles (AC-15, 230 V, I = 0.5 A)_x000D_ Sick;3.5 x 105 switching cycles (DC-13, 24 V, I = 2 A)_x000D_ Sick;1.2 x 106 switching cycles (DC-13, 24 V, I = 0.5 A)_x000D_ Sick;. PFHD (mean probability of a dangerous failure per hour): 2.0 x 10-7 (EN ISO 13849). TM (mission time): 4 years (EN ISO 13849)_x000D_ Sick;1) If the feedback current
Подробнее