г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

KT5G-2N3151 Sick

Артикул
KT5G-2N3151
Дополнительный Артикул
KT5G2N3151
Бренд
Sick
Описание
Сканер (1018039)KT 5G-2N3151 CONT SCANCONTRAST SENSORNPN OUTPUTLENS 211 (10 MM)NO TIMINGANALOG OUTPUTSMALL SPOT4-PIN M12
Вес
0,34 кг
Теги
Разное(датчики и переключатели)

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 1016447
Бренд: Sick
Описание: Датчик M20E-061A3A12 / 6 BEAMS: RECEIVER: 170 MM BEAM SPACING
Подробнее
Артикул: CLV410-3010S02BARCODE
Бренд: Sick
Описание: Сканер (1018588)CLV 410-3010S02 BAR CODE
Подробнее
Артикул: WS122D430S40
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик
Подробнее
Артикул: 6043209
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления PHT-CB1X0ST10S0AMS0ZPHT FLEXIBLE PRESSURE TRANSMITTER,COMPOUND PRESSURE (+- RELATIVE), -1 . 0 BAR,ACCURACY +-0.5% OF SPAN,TRI-CLAMP DN 1 1/2'',FLUSH
Подробнее
Артикул: 1063136
Бренд: Sick
Описание: Датчик RT-P1233SENSOR ONLY, PROXIMITY PE, BGS, DC, PNP, LO, M12 4-PIN, PIN 2 = Q, PIN 4 = NC
Подробнее
Артикул: LBV310-XXAGDRKMX
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления Features_x000D_ Sick;Medium: Bulk solids. Measurement: Switch. Probe length: 220 mm. Process pressure: –1 bar ... 25 bar. Process temperature: –50 °C ... +150 °C. Fill material density: ? 0.008. Particle size: < 10 mm_x000D_ Sick;Performance_x000D_ Sick;Accuracy of sensor element: ± 10 mm. Repeatability: ? 5 mm. Response time: 500 ms when covered / 1,000 ms when uncovered_x000D_ Sick;Electronics_x000D_ Sick;Power consumption: 5 mA ... 30 mA. Initialization time: 10 µA, < 3A AC, 1A DC. Inductive load: ? 1 H_x000D_ Sick;750 VA 54 W. Capacitive load: 100 nF_x000D_ Sick;750 VA 54
Подробнее