г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

IT4800ISF051CE Sick

Артикул
IT4800ISF051CE
Дополнительный Артикул
IT4800ISF051CE
Бренд
Sick
Описание
Индуктивный датчик IT4800ISF051CE(6028635)
Вес
1,36 кг
Теги
Разное(датчики и переключатели)

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: VT18T410PE
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PROX SWITCH
Подробнее
Артикул: 6042039
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления PBS-RB400SGESSSAMA0ZPBS ELECTRONIC PRESSURE SWITCH WITH DISPLAY,GAUGE PRESSURE (RELATIVE), 0…400 BAR,ACCURACY +-1% OF SPAN,G1/2B ACC. TO EN837,STAND
Подробнее
Артикул: MLG2-2240F212
Бренд: Sick
Описание: Датчик (1022606)MLG 2-2240F212 LIGHTGRIDHEIGHT 2240MM/BEAM SPACING20MM, 6X PNP, 2X INPUT, RANGE 5M, PROAMMABLE
Подробнее
Артикул: VTE180-2N42444
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (6043813)VTE180-2N42444PROXIMITY PEENERGETIC350MMRIGHT-ANGLEMETAL HOUSINGNPNM12
Подробнее
Артикул: 1022658
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PROXIMITY PHOTOELECTRICPNPREDLIGHT OP.15 MM BACKGROUND SUPPRESSIONM8 3-PIN 200MM PIGTAIL
Подробнее
Артикул: VSPM-6F2413
Бренд: Sick
Описание: Датчик расстояния Features_x000D_ Sick;Task: Inspection, Positioning, Measuring. Technology: 2D, snapshot, image analysis. Toolkit: Object locator, pixel count, edge pixel count, Pattern, blob locator, Polygon, edge, circle, distance, angle, edge counter, find maximum. Sensor: CMOS matrix sensor, grayscale values. Focus: Adjustable focus (manually). Calibration: Perspective and lens distortion correction, mm results. Robot coordinate alignment: ?. Working distance: ? 50 mm. Operating distance with internal illumination: 50 m
Подробнее