г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

ISD280-1121 Sick

Артикул
ISD280-1121
Дополнительный Артикул
ISD2801121
Бренд
Sick
Описание
Индуктивный датчик (1017375)ISD 280-1121RS 422/ 458 (2/4), CARRIER FREQUENCY 1, WITH HEATING
Вес
5,44 кг

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 7023882
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик LBSR32500 LIGHT GUIDE / GLASS/STAINLESS FIBER-OPTICBIFURCATED9.7 X 0.8MM SLOT3.2MM BUNDLE500MM
Подробнее
Артикул: 1000N451
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PROXIMITY PHOTOELECTRIC50 MM BACKGROUND SUPPRESSIONNPNIR4-PIN M12 W/150MM PIGTAIL
Подробнее
Артикул: UE23-2MF2D3
Бренд: Sick
Описание: Ультразвуковые Датчик Safety-related parameters_x000D_ Sick;Safety integrity level: SILCL2 (EN 62061). Category: Category 3 (EN ISO 13849). Performance level: PL d (EN ISO 13849). B10d parameter: 5.45 x 104 switching cycles (AC-15, 230 V, I = 3 A)_x000D_ Sick;1.26 x 106 switching cycles (AC-15, 230 V, I = 1.5 A)_x000D_ Sick;5.9 x 106 switching cycles (AC-15, 230 V, I = 0.75 A)_x000D_ Sick;4.35 x 105 switching cycles (DC-13, 24 V, I = 2.5 A)_x000D_ Sick;1 x 107 switching cycles (DC-13, 24 V, I = 0.63 A)_x000D_ Sick;. PFHD (mean probability of a dangerous failure per hour): 3.0 x 10-6 (EN
Подробнее
Артикул: SPEC402
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PHOTOELECTRIC
Подробнее
Артикул: BEF-KH-M18
Бренд: Sick
Описание: Датчик (2051481)BEF-KH-M18MOUNTING CLAMP FOR CYLINDRICAL M18 SENSORSWITHOUT MECHANICAL STOPPLASTIC (PA12)
Подробнее
Артикул: 1015768
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик REFLEX PHOTOELECTRICPOLARIZEDPNPREDDARK OP.2.8 M RANGE PL 80ACABLEPHASEOUT TO 1028152
Подробнее