г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

IMB08-04NNOVC0S Sick

Артикул
IMB08-04NNOVC0S
Дополнительный Артикул
IMB0804NNOVC0S
Бренд
Sick
Описание
Индуктивный датчик (1072682)IMB08-04NNOVC0S4MM RANGEUNSHIELDEDNPNNORMALLY CLOSEDM12 4-PIN CONNECTORSTANDARD HOUSING LENGTH
Вес
1,36 кг

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 5325992
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик LL3-DE01 FIBER OPTICPLASTIC FIBER OPTIC, BIFURCATED, M6, STAINLESS STEEL SHEATHING
Подробнее
Артикул: IME30-20BNSZC0K
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик (1071287)IME30-20BNSZC0KM30 THREADED BODY20MM RANGEQUASI-FLUSHNPNNORMALLY OPEN4-PIN M12 CONNECTORSHORT HOUSING LENGTH
Подробнее
Артикул: WTB4-3N3162
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (1028089)WTB4-3N3162 BGS PROXPROXIMITY PE, BGS, NPN, LIGHT OP., RED LED, 100MM M8 3-PIN PIGTAIL, TEACH BUTTON
Подробнее
Артикул: DGS66AAN04096
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик
Подробнее
Артикул: DKS40-R5L02000
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Performance_x000D_ Sick;Pulses per revolution: 2,000. Error limits binary pulses: 0.09°. Error limits non-binary pulses: 0.13°. Measuring step deviation at binary number of lines: 0.035°. Measuring step deviation at non binary number of lines: 0.07°. Initialization time: 40 ms. Measuring step: 90°, electronically/pulses per revolution_x000D_ Sick;Interfaces_x000D_ Sick;Electrical interface: Cable, universal, 3 m_x000D_ Sick;Electrical data_x000D_ Sick;Electrical interface: Open Collector NPN. Connection type: Cable, universal, 3 m. Operating power consum
Подробнее
Артикул: DRS61-E4Z0-S01
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик INCREM. CORETECH
Подробнее