г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

IMB08-02BNSVU2K Sick

Артикул
IMB08-02BNSVU2K
Дополнительный Артикул
IMB0802BNSVU2K
Бренд
Sick
Описание
Индуктивный датчик (1072699)IMB08-02BNSVU2K2MM RANGESHIELDEDNPNNORMALLY OPEN2M CABLESHORT HOUSING LENGTH
Вес
1,36 кг

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: WT160-P470
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PROXIMITY PHOTOELECTRICPNPRED0...300 MM RANG
Подробнее
Артикул: 2014850
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик LM32- 450 FIBER OPTIC / FIBER-OPTICINDIVIDUALSTRAIGHT2MM DIAMETER450MM LONGPVC JACKETFOR WLL 12
Подробнее
Артикул: 12095B416
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PHOTOELECTRIC SLOT SENSORPNP/NPNIR120MM SLOT WIDTH95MM EP4-PIN M8 CONNECTORTEACH-IN
Подробнее
Артикул: M40E-052200RR0
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Features_x000D_ Sick;Scanning range: 0.5 m ... 70 m, configurable. Low scanning range: 0.5 m ... 20 m. Great scanning range: 9 m ... 70 m. Number of beams: 5. Beam separation: 220 mm. Response time: 10 ms. Synchronization: Optical synchronisation_x000D_ Sick;Safety-related parameters_x000D_ Sick;Type: Type 4 (IEC 61496). Safety integrity level: SIL3 (IEC 61508)_x000D_ Sick;SILCL3 (EN 62061)_x000D_ Sick;. Category: Category 4 (EN ISO 13849). Performance level: PL e (EN ISO 13849). PFHD (mean probability of a dangerous failure per hour): 6.6 x 10-9 (EN ISO
Подробнее
Артикул: 1023763
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PROXIMITY PHOTOELECTRICFLUOROPOLYMER HOUSING80MM RANGENPNCABLE
Подробнее
Артикул: 1017983
Бренд: Sick
Описание: Сканер CLV 432-6010 - OSCILLATING MIRROR / CLOSE RANGE / HOST PORT RS 232/422/485
Подробнее