г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

IM30-15N-N-ZW0 Sick

Артикул
IM30-15N-N-ZW0
Дополнительный Артикул
IM3015NNZW0
Бренд
Sick
Описание
Индуктивный датчик Features_x000D_ Sick;Housing: Cylindrical thread design. Thread size: M30 x 1.5. Diameter: O 30 mm. Sensing range Sn: 15 mm. Safe sensing range Sa: 12.15 mm. Installation type: Non-flush. Switching frequency: 200 Hz. Connection type: Cable, 2-wire, 2 m. Output type: NAMUR. Output function: NC. Enclosure rating: IP 67 1)_x000D_ Sick;1) According to EN 60529._x000D_ Sick;Mechanics/electronics_x000D_ Sick;Supply voltage: 7.5 V DC ... 25 V DC 1). Current consumption: ? 30 mA 1). Hysteresis: 1 % ... 15 %. Temperature drift (of Sr): ± 10 %. EMC: Ac
Вес
1,36 кг
Теги
Разное(датчики и переключатели)

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 1011445
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PROXIMITY PHOTOPNP/NPN
Подробнее
Артикул: INSPECTORDEMOCASE(2G)
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик (1048002)INSPECTOR DEMO CASE (2G)INSPECTOR DEMO CASE WITH CABLESIO BOXPOWER SUPPLYMOUNTINGBRACKET AND SMALL BOGAN ARM. DOES NOT INCLUDE A CAME
Подробнее
Артикул: WSWE182P132
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик THROUGH-BEAM PHOTOELECTRICPNPRED12 M RANGECABLEPHASEOUT TO 1025922
Подробнее
Артикул: 6026268
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик THROUGH-BEAM PHOTOELECTRICPNPREDOPERATING RANGE 22 M4-PIN M12 CONNECTOR
Подробнее
Артикул: WSE9M4-3P2230
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (1051912)WSE9M4-3P2230THROUGH-BEAM PEPNPL/D OPERATEM8 4-PINRED PINPOINT LEDNO ADJUSTMENT
Подробнее
Артикул: DGS67A5B00200
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик
Подробнее