г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

IM12-04NA0-ZU0 Sick

Артикул
IM12-04NA0-ZU0
Дополнительный Артикул
IM1204NA0ZU0
Бренд
Sick
Описание
Индуктивный датчик IM12-04NA0-ZU0(7902121)
Вес
1,36 кг
Теги
Разное(датчики и переключатели)

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 6013956
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PHOTOELECTRIC SENDER
Подробнее
Артикул: OD2-P250W150AO
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик (6036648)OD2-P250W150AO DISPLACEMTDISPLACEMENT SENSOROD VALUE250MM +/- 150MMPNP M12 8-PIN RS42
Подробнее
Артикул: 1062959
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления PAC50-BGBPAC50ELECTRONIC PRESSURE SWITCH-1 BAR . +1 BAR / 5 BARBOTTOM SIDE: THREAD G FEMALEBACK SIDE: THREAD G FEMALESWITCHING OUTPUT 1: PNP
Подробнее
Артикул: WT2F-N170
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик (6030587)WT2F-N170 PE PROX V-OPTICPROXIMITY PEV-OPTIC8MM RANGENPNLO.2M CABLE
Подробнее
Артикул: IM08-2N5PS-ZT1
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик (6020231)IM08-2N5PS-ZT1 INDUCTIVE2.5MM NON-FLUSHPNPNOM8
Подробнее
Артикул: PSD01-1501
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Features_x000D_ Sick;Scanning range: 0.5 m ... 7.5 m. Number of beams: 2. Beam separation: 500 mm. Response time: 10 ms. Synchronization: Optical synchronisation_x000D_ Sick;Safety-related parameters_x000D_ Sick;Type: Type 4 (IEC 61496). Safety integrity level: SIL3 (IEC 61508)_x000D_ Sick;SILCL3 (EN 62061)_x000D_ Sick;. Category: Category 4 (EN ISO 13849). Performance level: PL e (EN ISO 13849). PFHD (mean probability of a dangerous failure per hour): 6.6 x 10-9 (EN ISO 13849). TM (mission time): 20 years (EN ISO 13849). Safe state in the event of a fau
Подробнее