г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

IE200-F1 Sick

Артикул
IE200-F1
Дополнительный Артикул
IE200F1
Бренд
Sick
Описание
Индуктивный датчик (5308759)IE200-F1 FLEX ACTUATORI200 ACTUATOR: FLEXIBLE
Вес
0,07 кг
Теги
Запчасти для сборки

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 1000N450
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PROXIMITY PHOTOELECTRIC50 MM BACKGROUND SUPPRESSIONNPNIR4-PIN M12
Подробнее
Артикул: UE43-3AR3D2
Бренд: Sick
Описание:

Ультразвуковые Датчик Safety-related parameters_x000D_ Sick;Safety integrity level: SIL3 (IEC 61508)_x000D_ Sick;SILCL3 (EN 62061)_x000D_ Sick;. Category: Category 4 (EN ISO 13849). Performance level: PL e (EN ISO 13849). B10d parameter: 3 x 105 switching cycles (AC-15, 230 V, I = 5 A)_x000D_ Sick;2 x 106 switching cycles (DC-15, 230 V, I = 2 A)_x000D_ Sick;7 x 106 switching cycles (DC-13, 24 V, I = 1 A)_x000D_ Sick;. PFHD (mean probability of a dangerous failure per hour): 1.30 x 10-8 (EN ISO 13849). TM (mission time): 20 years (EN ISO 13849). Stop category: 0 (EN 60204-1)_x000D_ Sick;Interfaces_x000D_ Sick;Co

Подробнее
Артикул: CLV4403010S01
Бренд: Sick
Описание: Сканер RASTER SCAN / LOW CONTRAST / RIGHT ANGLE
Подробнее
Артикул: VE18-3F3940
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PHOTOELECTRIC 20M RANGE PNP 3WIRE 4PIN
Подробнее
Артикул: WL9-2P431
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик REFLEX PHOTOELECTRICPOLARIZEDREDPNP0...4 M RANGE PL 80 ATEACH-IN4-PIN M12
Подробнее
Артикул: 6052405
Бренд: Sick
Описание: Датчик WL100-2P1409S34PNPBRIGHT LIGHT REFLEX SENSORWITH A LO/DO ROTARY SWITCH AND POTENTIOMETER300 MM PIGTALE M8 4-PINWITH 1 BRACKET AND P250 REFLECT
Подробнее