г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

I15-EP0123 Sick

Артикул
I15-EP0123
Дополнительный Артикул
I15EP0123
Бренд
Sick
Описание
Индуктивный датчик (6034030)I15-EP0123 LOCKI15 SERIES ELECTRICAL LOCKING: 24VDC1 NCM20 CONDUIT ENTRY
Вес
1,36 кг
Теги
VDC

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 6048001
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления PBS-RP500SN1SS0AMA0ZPBS ELECTRONIC PRESSURE SWITCH WITH DISPLAY,GAUGE PRESSURE (RELATIVE), 0…500 PSI,ACCURACY +-1% OF SPAN,1/4 NPT,STANDARD,PROCESS
Подробнее
Артикул: DGS65ZZA0S02
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик
Подробнее
Артикул: 160TN361
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PROXIMITY PHOTOELECTRICNPNL/DIR0 . . . 1000 MM RANGEM3-PINHORIZONTAL HOUSING
Подробнее
Артикул: 7123690
Бренд: Sick
Описание: Лазерный датчик M40P-043013RB0 / 4 BEAM300 MM BEAM SPACING: PAIR - LASER ALIGNMENT AIDADVANCED
Подробнее
Артикул: M40E-034010RR0
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Features_x000D_ Sick;Scanning range: 0.5 m ... 70 m, configurable. Low scanning range: 0.5 m ... 20 m. Great scanning range: 9 m ... 70 m. Number of beams: 3. Beam separation: 400 mm. Response time: 10 ms. Synchronization: Optical synchronisation. Integrated laser alignment aid: ?_x000D_ Sick;Safety-related parameters_x000D_ Sick;Type: Type 4 (IEC 61496). Safety integrity level: SIL3 (IEC 61508)_x000D_ Sick;SILCL3 (EN 62061)_x000D_ Sick;. Category: Category 4 (EN ISO 13849). Performance level: PL e (EN ISO 13849). PFHD (mean probability of a dangerous fa
Подробнее
Артикул: 4500010S07
Бренд: Sick
Описание: Сканер LINE SCAN / STANDARD / PLASTIC WINDOW / SOFTWARE SELECTABLE HOS PORT RS 232/422/485
Подробнее