г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

ELG3-2370P523 Sick

Артикул
ELG3-2370P523
Дополнительный Артикул
ELG32370P523
Бренд
Sick
Описание
Сканер (1026178)ELG3-2370P523HEIGHT 2370MM/BEAM SPACING 30MM1XPNPMULTISCANRANGE 12M
Вес
5,44 кг
Теги
Сканер

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: VS/VE-3P3240
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик VS/VE-3P3240(6013689)
Подробнее
Артикул: 6038688
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления PBT-AB4X0SG1SSNVMC0ZPRESSURE TRANSMITTER PBT,ABSOLUTE PRESSURE, 0…4 BAR,NON-LINEARITY +-0.5% OF SPAN (BFSL),G1/4A ACC. TO DIN3852-E,STANDARD,0… +80
Подробнее
Артикул: WSE12C-3P2430A70
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (1067781)WSE12C-3P2430A70PNPLO\DOW12 THRU BEAM PD SENSOR WITH MANY IO LINK FUNCTIONS AND A M12 4-PIN PLUG.
Подробнее
Артикул: 7901784
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления M3.0 MAGNET / MAGNET M3.020 X 6.5MM DIAMETERBARIUM FERRITE TYPE
Подробнее
Артикул: 6011133
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PROXIMITY PHOTOELECTRIC PNP IR 100 MM RANGE 4 PIN M12 CONNECTOR
Подробнее
Артикул: DFS60S-TEOC01024
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Safety-related parameters_x000D_ Sick;Safety integrity level: SIL2 (IEC 61508), SILCL2 (IEC 62061) 1). Category: 3 (EN ISO 13849). Test rate: Not required. Maximum demand rate: Continuous (analog signals). Performance level: PL d (EN ISO 13849) 1). PFHd: Probability of dangerous failure per hour: 1.7 x 10-8 2). TM (mission time): 20 years (EN ISO 13849). Safety-related measuring step: 0.09°, Quadrature analysis. Safety-related accuracy: ± 0.09°_x000D_ Sick;1) For more detailed information on the exact configuration of
Подробнее