г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

DSL-1204-B0M6N LEI Sick

Артикул
DSL-1204-B0M6N LEI
Дополнительный Артикул
DSL1204B0M6NLEI
Бренд
Sick
Описание
Оптический датчик DSL-1204-B0M6N LEI(6028197)
Вес
1,36 кг

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: DOL-MS19-G05MMA2
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик (7102118)DOL-MS19-G05MMA2CABLE ASSEMBLYMS 3116 19-PINSTRAIGHT WITH SCREENING5 M LENGTH
Подробнее
Артикул: IM0802BNSZT0
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик 7900006 / IM08-02BNS-ZT0 INDUC PROX
Подробнее
Артикул: 1062254
Бренд: Sick
Описание: Датчик LFP1100-A5NMCTDR LEVEL SENSOR LFP, PROBE 1100 MM, G 3/4 PROCESS CONNECTION, 4X PNP/NPN, 0.10V OR 0.20MA, M12, 8-PIN
Подробнее
Артикул: MLG10S-0140D10501
Бренд: Sick
Описание: Датчик Features_x000D_ Sick;Version: Prime. Technology: Sender/receiver. Minimum detectable object (MDO): 14 mm 1) 2). Beam separation: 10 mm. Number of beams: ? 15. Detection height: 140 mm. Software features: Q1: Auto-define height classification_x000D_ Sick;Q2 / IN: Auto-define height classification_x000D_ Sick;Q3: Auto-define height classification_x000D_ Sick;Inverted: -_x000D_ Sick;Teach: Standard teach_x000D_ Sick;1) MDO min. detectable object._x000D_ Sick;2) Depending on beam separation without cross beam setting._x000D_ Sick;Performance_x000D_ Sick;Maximum range: 7 m 1). Minimum range: ? 0 mm. Workin
Подробнее
Артикул: VT180-N112S03
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик VT180-N112S03(6020905)
Подробнее
Артикул: 1058916
Бренд: Sick
Описание: Лазерный датчик WTB9L-3P3461 LSR BGS PNPPROXIMITY PE, PNP, LASER CLASS 1, 25.300MM SENSING DISTANCE ADJ, PIGTAIL 4-PIN M12, M3 HOLE
Подробнее