г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

DRS60E4A01397 Sick

Артикул
DRS60E4A01397
Дополнительный Артикул
DRS60E4A01397
Бренд
Sick
Описание
Оптический датчик

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: IQ40-35NPP-KCM
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик (6025813)IQ40-35NPP-KCMPNP35MM RANGESHORT BODYNON-FLUSHWELD FIELD IMMUNEFACTOR 1ROTATING HEAD
Подробнее
Артикул: VSE18L-4N344
Бренд: Sick
Описание: Лазерный датчик (6027937)VSE18L-4N344 TRHU BEAMLASERNPNM12RT ANGLE
Подробнее
Артикул: MLG2-1780F212
Бренд: Sick
Описание: Датчик (1024063)MLG 2-1780F212 LIGHTGRIDHEIGHT 1780MM/BEAM SPACING 20MM, 6X PNP OUTPUTS, 2 INPUTS, RANG5M, PROGRAMMABLE
Подробнее
Артикул: MLG1-0890F212
Бренд: Sick
Описание: Датчик Features_x000D_ Sick;Technology: Sender/receiver. Minimum detectable object (MDO): Parallel beam, 15 mm 1). Beam separation: 10 mm. Number of beams: ? 90. Detection height: 890 mm. Configuration: Parameterization interface (measuring)_x000D_ Sick;1) MDO min. detectable object._x000D_ Sick;Performance_x000D_ Sick;Maximum range: 7 m 1). Minimum range: Parallel beam: ? 0 mm. Working range: 5 m. Response time: Parallel beam ? 14.5 ms 2)_x000D_ Sick;1) No reserve for environmental issue and deterioration of the diode._x000D_ Sick;2) With resistive load._x000D_ Sick;Interfaces_x000D_ Sick;Switc
Подробнее
Артикул: 1213797
Бренд: Sick
Описание: Датчик MLG05A-0445I10501MLG PRO 5MM SPACING, 445 MM DETECTION HEIGHT, RS-485 + 2 X I/O(IO-LINK), 5M SENSING RANGE, STANDARD CONFIGURATION
Подробнее
Артикул: DOL-1204-G05MC
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик (6025901)DOL-1204-G05MC CABLECORDSETM12FEMALE4-PINSTRAIGHTPURBLACK5M
Подробнее