г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

DME2000-000 Sick

Артикул
DME2000-000
Дополнительный Артикул
DME2000000
Бренд
Sick
Описание
Оптический датчик LASER SENSOR DISTANCE MEASURE
Вес
14,51 кг
Теги
Фотоэлектрика

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: WSWE122T01
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик
Подробнее
Артикул: 1064662
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик WTV2S-2P3120WTV2S-2P3120 SUBMINIATURE PROXIMITY SENSOR, V-OPTIC 30 MM FIX, DETECTION OF TRANSPARENT AND SHINY FLAT OBJECTS, RED LIGHT PINPOINT 2.0 L
Подробнее
Артикул: 1012906
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик REFLEX PHOTOELECTRICPOLARIZEDREDPNP7 M RANGE PL 80 ACABLE REPLACED BY 1025909
Подробнее
Артикул: 3012114
Бренд: Sick
Описание: Датчик TEACH-IN1 OUTPUTNPNM125-PIN60-350 MM SENSING RANGE
Подробнее
Артикул: M20E-04130A122
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Features_x000D_ Sick;Scanning range: 0 m ... 25 m, configurable. Low scanning range: 0 m ... 6 m. Great scanning range: 2 m ... 25 m. Number of beams: 4. Beam separation or resolution: 300 mm. Response time: 8 ms. Synchronization: Optical synchronisation_x000D_ Sick;Safety-related parameters_x000D_ Sick;Type: Type 2 (EN 61496). Safety integrity level: SIL1 (IEC 61508)_x000D_ Sick;SILCL1 (EN 62061)_x000D_ Sick;. Category: Category 2 (EN ISO 13849). Test rate (internal test): 13 /s (EN ISO 13849) 1). Maximum demand rate: ? 8 /min (EN ISO 13849) 2). Perform
Подробнее
Артикул: 1066547
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик GRTE18-N1142GRTE18-N1142 PHOTOELECTRIC PROXIMITY SENSORPINPOINT RED LIGHTSENSING RANGE 400 MMNPNCOMPLIMENTARY OUTPUTCABLE 2MM18 METAL AXIA
Подробнее