г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

DL100-11HA2101 Sick

Артикул
DL100-11HA2101
Дополнительный Артикул
DL10011HA2101
Бренд
Sick
Описание
Оптический датчик (1059958)DL100-11HA2101DISTANCE SENSOR DL100MEASURING RANGE 0.15-60MSSIHEATED
Вес
9,07 кг

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: C40E1501BG300
Бренд: Sick
Описание: Датчик 1500 MM HEIGHT14 MM BEAM RESOLUTIONRECEIVER1-5M RANGEBASIC PLUS
Подробнее
Артикул: DGS65CAA00200
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик
Подробнее
Артикул: 6039456
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления PHT-RB6X0SVF0S0AFT0ZPHT FLEXIBLE PRESSURE TRANSMITTER,GAUGE PRESSURE (RELATIVE), 0 . 6 BAR,ACCURACY +-0.5% OF SPAN,VARIVENT CONNECTOR TYPE F,FLUSH-M
Подробнее
Артикул: PBT-RB016SG1SSNALA0Z
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления (6041049)PBT-RB016SG1SSNALA0ZPRESSURE TRANSMITTER PBTGAUGE PRESSURE (RELATIVE)0…16 BARNON-LINEARITY +-0.5% OF SPAN (BFSL)G1/4A ACC. TO DIN3852-
Подробнее
Артикул: H1024032
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик SICK OPTIC ELECTRONICLEDEX
Подробнее
Артикул: MLG10A-1040B10501
Бренд: Sick
Описание: Датчик Features_x000D_ Sick;Version: Pro. Technology: Sender/receiver. Minimum detectable object (MDO): 10 mm, 14 mm 1) 2) 3). Beam separation: 10 mm. Number of beams: ? 105. Detection height: 1,040 mm. Software features: Qa1: Number of broken beams_x000D_ Sick;Qa2: height measurement (last beam)/LBB_x000D_ Sick;Q1: presence detection_x000D_ Sick;Q2 / IN: Teach-in_x000D_ Sick;Teach: Standard mode_x000D_ Sick;1) MDO min. detectable object at high measurement accuracy._x000D_ Sick;2) MDO min. detectable object for standard measurement accuracy._x000D_ Sick;3) Depending on beam separation without cr
Подробнее

Ваша заявка принята