г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

DKS40-E5M01000 Sick

Артикул
DKS40-E5M01000
Дополнительный Артикул
DKS40E5M01000
Бренд
Sick
Описание
Оптический датчик DKS40-E5M01000(1036327)
Вес
1,36 кг

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: PBS-RP100SGESSSBMA0Z
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления (6054720)PBS-RP100SGESSSBMA0ZELECTRONIC PRESSURE SWITCHPRESSURE TRANSMITTER AND DISPLAYGAUGEPSI0 . 100 PSI (OVER PRESSURE SAFETY: 200 PSI)
Подробнее
Артикул: 6042117
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления PBT-CB4X0SG1SSNAMA0ZPRESSURE TRANSMITTER PBT,COMPOUND PRESSURE (+-), -1…+3 BAR,NON-LINEARITY +-0.5% OF SPAN (BFSL),G1/4A ACC. TO DIN3852-E,STANDARD,
Подробнее
Артикул: 1025247
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик DME 5000-322 DIST MEAS / DISTANCE MEASURING DEVICEREFLEX300M PROFIHEAT
Подробнее
Артикул: 2017830
Бренд: Sick
Описание: Датчик SENSOR
Подробнее
Артикул: MLG10A-0440B10801
Бренд: Sick
Описание: Датчик Features_x000D_ Sick;Version: Pro. Technology: Sender/receiver. Minimum detectable object (MDO): 10 mm, 14 mm 1) 2) 3). Beam separation: 10 mm. Number of beams: ? 45. Detection height: 440 mm. Software features: Qa1: Number of broken beams_x000D_ Sick;Qa2: height measurement (last beam)/LBB_x000D_ Sick;Q1: presence detection_x000D_ Sick;Q2 / IN: Teach-in_x000D_ Sick;Teach: Standard mode_x000D_ Sick;1) MDO min. detectable object at high measurement accuracy._x000D_ Sick;2) MDO min. detectable object for standard measurement accuracy._x000D_ Sick;3) Depending on beam separation without cross
Подробнее
Артикул: 1047882
Бренд: Sick
Описание: Сканер CLV622-0001 LEXAN WIND / CLV622-0001FRONTLEXAN WINDOWLINESERIAL
Подробнее