г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

DFS60B-S4CL01024 Sick

Артикул
DFS60B-S4CL01024
Дополнительный Артикул
DFS60BS4CL01024
Бренд
Sick
Описание
Оптический датчик DFS60B-S4CL01024(1037805)
Вес
1,36 кг

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 1046463
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик AL20E-PM111 / PHOTOELECTRIC - ARRAY25MM SENSING RANGE20MM SPOT SIZEPNP4-20MA ANALOG OUTPUT5-PIN M12CONNECTORREFLECTOR INCLUDED
Подробнее
Артикул: WS36D930
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик THROUGH-BEAM PHOTOELECTRICINDIVIDUAL SENDERIR
Подробнее
Артикул: 1060739
Бренд: Sick
Описание: Датчик WSE4S-3F3430S02PNPW4 SLIM PE THROUGH BEAM SENSOR WITH AN M12 4-PIN PIGTAIL.
Подробнее
Артикул: 6039833
Бренд: Sick
Описание: Сканер (6320 DPM USB KIT CORDLESS) 6320IDP351S-0AAE SCAN.KIT
Подробнее
Артикул: 1045882
Бренд: Sick
Описание: Датчик LFT1300-01B1A60W00TDR LEVEL SENSOR LFT, COAXIAL PROBE 1300 MM, 2X PNP + 4…20MA, PROGRAMMABLE HYSTERESIS, SWITCHING OUTPUTS: NC, M12X1, 8-PIN, CUSTOM
Подробнее
Артикул: UE11-4DX2D32
Бренд: Sick
Описание: Ультразвуковые Датчик Safety-related parameters_x000D_ Sick;Safety integrity level: SIL2 (IEC 61508) 1)_x000D_ Sick;SILCL2 (EN 62061) 1)_x000D_ Sick;. Category: Category 3 (EN ISO 13849) 1). Performance level: PL d (EN ISO 13849) 1). B10d parameter: 1 x 106 switching cycles (AC-15, 230 V, I = 0.5 A)_x000D_ Sick;3.5 x 105 switching cycles (DC-13, 24 V, I = 2 A)_x000D_ Sick;1.2 x 106 switching cycles (DC-13, 24 V, I = 0.5 A)_x000D_ Sick;. PFHD (mean probability of a dangerous failure per hour): 2.0 x 10-7 (EN ISO 13849). TM (mission time): 4 years (EN ISO 13849)_x000D_ Sick;1) If the feedback current
Подробнее