г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

CVS4-N152 Sick

Артикул
CVS4-N152
Дополнительный Артикул
CVS4N152
Бренд
Sick
Описание
Датчик расстояния Features_x000D_ Sick;Task: Inspection. Technology: 2D, snapshot, image analysis. Toolkit: OCV, OCR. Working distance: 44 mm ... 56 mm. Internal lighting: White. LED class: Risk group 1 (low risk, IEC62471 : 2006). Spectral range: Approx. 400 nm ... 750 nm. Offline support: Configuration_x000D_ Sick;Performance_x000D_ Sick;Sensor resolution: 512 x 242. Maximum performance: 43 fps. Typical performance: 20 fps. Number of inspections: 4. Character width: 1 mm ... 11 mm. Character height: 1.1 mm ... 24 mm_x000D_ Sick;Interfaces_x000D_ Sick;Operator interfaces

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: WSE250-2P2431
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (6044705)WSE250-2P2431THROUGH-BEAM PEPNPRED4-PIN M12BRACKET INCLUDED
Подробнее
Артикул: C40P-0601AG300
Бренд: Sick
Описание: Датчик (7122705)C40P-0601AG300 BASIC PLUS600 MM HEIGHT14 MM BEAM RESOLUTIONPAIR0-2.5M RANGEBASIC PLUS
Подробнее
Артикул: 183N430
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PROXIMITY PHOTOELECTRICNPNRED50.600 MMABS4-PIN M12 NNECTORPOTENTIOMETER
Подробнее
Артикул: IME30-10BPSZC0K
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик (1040997)IME30-10BPSZC0KSHORT BODYSTANDARD (1X) SNFLUSHPNPNOM12 CONNECTOR
Подробнее
Артикул: IME12-04BPOZC0K
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик (1040767)IME12-04BPOZC0KSHORT BODYADVANCED (2X) SNFLUSHPNPNCM12 CONNECTOR
Подробнее
Артикул: WLL2000-M1322
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик (7023415)WLL2000-M1322 FIBR OPTICWLL 2000 FET OUTPUTON/OFF DELAY4-WIRE2M CABLE
Подробнее